FTIR测量的宽波数范围发射光谱强度校正

发布时间：2017-07-19 13:11

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【摘要】：针对采用FTIR方法在宽波数范围内测得不同样品的发射光谱在强度上难以做定量比较的困难,提出了一种简便可行的校正方案,即通过计算发射谱仪器函数来进行强度校正;对其可行性、限制因素及注意事项进行了详细讨论.以一组覆盖宽波数范围的样品为例用此方案测量校正了室温下测得的光荧光谱,并对校正前后的结果进行了比对分析,获得了与实际符合的结论.结果表明采用FTIR测量方法并结合适当的校正方案可以获得宽波数范围内的有效发光强度信息.
【作者单位】： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室;
【关键词】： 发射光谱 校正 发光强度 光荧光 傅里叶变换
【基金】：973计划(2012CB619200、2014CB643900) 国家自然科学基金(61275113、61204133、61405232、61334004)~~
【分类号】：TH744.1
【正文快照】： PACS:78.55.-m,78.20.-e,78.66.-w引言光电子材料和器件的发光特性是反映其性质及相关物理过程的基本特性之一,也是相关材料和器件的研究及生产过程中经常需要测量的参数.测量一个实际光电材料或器件的发光光谱可以有多种方法;传统的基本方法是采用所谓分光光谱方案,即将发射

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1 黄改霞;分光光度计[J];高速摄影与光子学;1986年01期

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本文编号：563045