Wolter型X射线嵌套望远镜成像质量分析

发布时间：2017-07-27 07:23

  本文关键词：Wolter型X射线嵌套望远镜成像质量分析

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【摘要】：X射线成像技术在空间探测中的应用日渐广泛,为了提高孔径利用率和系统有效面积,通常采用Wolter-Ⅰ型嵌套望远镜对空间X射线源进行会聚成像。由于传统的光学设计软件在分析掠入射系统方面存在一定的缺陷,因此使用MT_RAYOR工具库自编程对X射线望远镜进行成像质量分析。MT_RAYOR用于Wolter-Ⅰ型嵌套结构望远镜系统的分析,具有全面、准确和快捷的优势。基于MT_RAYOR,对用于0.2~20 ke V波段成像的嵌套型双锥结构望远镜进行了系统设计,从有效面积、点扩展函数、能量集中度等方面进行了成像质量分析。该结构在10 ke V以内保持500 cm2以上的稳定有效面积,在硬X射线波段的有效面积也可达到250 cm2以上,系统工作波段跨度大、稳定性高。分析了辐条和反射面的面形误差对系统在实验中成像质量的影响,对望远镜系统的优化和装调具有指导作用。
【作者单位】： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国科学院大学;
【关键词】： 成像系统 X射线望远镜 分辨率 MT_RAYOR 面形误差
【基金】：中国科学院长春光机所创新基金(Y3CX1SS145)
【分类号】：O434.1;TH743
【正文快照】： 1引言随着空间技术的不断发展,空间环境预报和空间探测要求越来越精确的实时观测数据,使用X射线望远镜对空间X射线进行观测具有重大的科研和应用价值。天基X射线成像观测的工作波段包括0.2~2 ke V的软X射线、2~10 ke V中等能量波段以及10 ke V以上的硬X射线波段[1-2]。从20世

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