一种任意正交折线线圈阻抗的解析建模新方法

发布时间：2017-09-02 11:00

  本文关键词：一种任意正交折线线圈阻抗的解析建模新方法

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【摘要】：提出了一种位于导体上方正交折线线圈的阻抗解析建模方法。首先,在前人研究的基础上,定义了外形位置因子,得出了单矩形线圈的入射场感应电压及散射场电压简化计算方法;其次,将多个矩形线圈自感电压及两两之间的互感电压叠加,建立了串联等效电感模型;再次,根据任意正交折线线圈的几何原理,将该线圈拆解为有限个相同截面的矩形线圈并进行重构,得出入射场阻抗及散射场阻抗的广义二重积分表达式。最后,利用Mathematica对回折线圈实例进行了计算与实验比较,并根据影响阻抗的各个变量绘制阻抗平面图。拆解重构方法可用于不同形状、不同激励频率、不同提离高度的正交折线线圈平行置于任意电导率导体上方的阻抗解析计算。
【作者单位】： 厦门大学机电工程系测试控制技术研究所;
【关键词】： 广义二重积分 外形位置因子 拆解重构 串联等效
【基金】：国家自然科学基金(51177141) 中央高校基本科研业务项目(2010121041) 航空基金(2012ZD68003)项目资助
【分类号】：TH878
【正文快照】： 1引言折线线圈广泛应用于非接触的无损检测中,特别是电涡流检测与电磁超声检测[1-2]。其中折线线圈的几何参数对磁场能量转换的效率及检测结果有直接影响。对折线线圈的阻抗进行解析建模并快速可靠计算,对于电涡流检测中的传感器设计、实时信号处理及电磁超声检测中的阻抗匹配

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本文编号：778123