紧聚焦径向偏振倏逝场的测量

发布时间：2017-09-09 10:26

  本文关键词：紧聚焦径向偏振倏逝场的测量

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【摘要】：基于径向偏振光束的全内反射荧光显微成像具有更高的成像分辨率,探究其倏逝场的强度分布规律是实现系统结构设计和优化的关键。基于矢量衍射理论,推导了聚焦的径向偏振倏逝场的数学表达式,进行了理论计算,并基于扫描近场光学显微镜搭建了实验系统,测试了倏逝场的强度分布,验证了理论分析。测试结果表明,聚焦的径向偏振光束产生的倏逝场在横向及轴向都具有非常高的分辨率,在可见光波长范围内,光斑横向半高全宽度在100~200nm范围,轴向半高全宽度在40~80nm范围,突破了衍射极限,证明了该类型倏逝场在全内反射荧光显微成像领域巨大的应用价值,也为接下来的系统改进提供了技术支持。
【作者单位】： 北京信息科技大学光电测试技术北京市重点实验室;
【关键词】： 全内反射荧光显微成像 径向偏振光 倏逝场 扫描近场光学显微镜
【基金】：国家自然科学基金(61108047;61475021) 教育部新世纪优秀人才支持计划(NCET-13-0667) 北京市青年拔尖人才支持计划(CIT&TCD201404113)
【分类号】：TH742
【正文快照】： 全内反射荧光显微镜(Total Internal ReflectionMicroscopy,TIRF)是一种用于薄样品(通常小于200nm)观测的一种成像技术[1]。该技术使用倏逝场在轴向范围内非常薄的区域内激发荧光,可以实现细胞表层高分辨率成像,这对于研究很多发生在细胞或分子表层的生命活动具有非常重要的价，

本文编号：819898