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基于坐标测量的石英音叉测头误差分析及标定

发布时间:2017-09-24 21:16

  本文关键词:基于坐标测量的石英音叉测头误差分析及标定


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【摘要】:微纳制造业的迅猛发展,也带动着测量技术的不断提高。原子力显微镜和三坐标测量机等也以其各有的优势在不同测量领域得到广泛的应用。原子力显微镜能以纳米级精度测得微纳器件的面型特征,但其测量范围有限;而传统的三坐标测量机虽然可以完成大范围的面型测量,但由于测头的限制导致其测量精度无法达到纳米级。为了解决半球陀螺球碗尺寸与球面精度的大范围高精度测量问题,本文提出了基于三坐标测量机的新型谐振测头的研究。这种谐振测头是一种新型的石英音叉式测头,其特点就是能进行自感应自激励,无需外设的传感器和光学测量仪器,测头结构紧凑小巧。将其与微纳三坐标测量机相结合,并对测头进行性能标定和误差分析后,就能保证大范围高精度的测量结果。因此为了在微纳坐标测量机上更好的应用这种测头系统,确立并减小误差因素,本论文主要做了如下工作。首先根据这种石英音叉测头的外形结构及受力特点建立力学模型,从力学原理上了解测头的振动特性并确定测头的工作模式;然后建立音叉测头的电学模型,通过分析传递函数得出测头的幅频特性曲线,并基于测头的电路控制原理,分析电路中存在的噪音影响,并尽量予以消除。其次对测头的控制电路参数进行调节,消除测头内部噪声对测头性能的影响,使测头达到优化的状态。然后对测头的各项特性进行参数标定,明确测头机械振幅与控制电路输出电压之间的关系,进行测头自身工作性能的测试以及测头进退针实验和灵敏度的标定。经过标定后的测头可以通过测量标准台阶,对其整体测量精度指标进行标定。最后对测头测量过程中存在的误差影响因素进行定性和定量分析,分别从测头自身的机械结构特性、测头的控制电路以及环境因素等几个方面分析误差来源,然后通过实验验证这些影响因素对测头测量造成的误差大小,并对所有误差进行综合评定,保证测头误差大小在0.1μm之内。其中机械结构特性主要是测头振动的对称性,控制电路部分则主要是电路内部噪声,环境因素则包含了电磁干扰、温度、气流以及外界振动等的影响。
【关键词】:三坐标测量机 石英音叉测头 谐振频率 误差分析 测头标定
【学位授予单位】:哈尔滨工业大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:TH721
【目录】:
  • 摘要4-5
  • ABSTRACT5-9
  • 第1章 绪论9-16
  • 1.1 课题来源及研究的背景和意义9-10
  • 1.1.1 课题来源9
  • 1.1.2 课题研究的背景和意义9-10
  • 1.2 国内外研究现状10-15
  • 1.2.1 国内外测头系统的研究分类10-14
  • 1.2.2 微纳米测量测头系统国内外研究现状分析14-15
  • 1.3 课题研究的主要内容15-16
  • 第2章 石英音叉测头工作模式研究16-29
  • 2.1 引言16
  • 2.2 石英音叉测头的基本工作原理16-20
  • 2.2.1 音叉测头的机械结构特性分析16-18
  • 2.2.2 音叉测头的工作原理及力学模型18-20
  • 2.3 石英音叉测头的控制电路原理20-26
  • 2.3.1 音叉测头的电学模型建立20-22
  • 2.3.2 音叉测头的控制电路分析22-26
  • 2.4 石英音叉测头的基本工作模式26-28
  • 2.4.1 轻敲式探针的频率调制模式26-27
  • 2.4.2 频率调制模式下探针的逼近原理27-28
  • 2.5 本章小结28-29
  • 第3章 石英音叉测头的标定技术研究29-44
  • 3.1 引言29
  • 3.2 音叉测头系统的硬件组成29-31
  • 3.3 音叉测头前置放大信号处理31-34
  • 3.3.1 测头内部微弱信号的提取方法31-32
  • 3.3.2 测头内部寄生电容的补偿实验32-34
  • 3.4 音叉测头的标定34-43
  • 3.4.1 测头的机电耦合系数标定35-37
  • 3.4.2 测头的性能测试37-40
  • 3.4.3 测头的进针实验及灵敏度标定40-42
  • 3.4.4 标准台阶的测量实验42-43
  • 3.5 本章小结43-44
  • 第4章 测头系统的误差影响因素分析及精度评价44-56
  • 4.1 引言44
  • 4.2 音叉测头系统及其测量环境44-45
  • 4.3 测头自身机械结构影响分析45-46
  • 4.4 控制电路静态噪音测试实验46-47
  • 4.5 影响测头性能的环境因素47-52
  • 4.5.1 电磁干扰对测头性能的影响48-49
  • 4.5.2 环境温度对测头性能的影响49
  • 4.5.3 外界振动对测头性能的影响49-50
  • 4.5.4 气流对测头性能的影响50-52
  • 4.6 测头的单点重复性测量实验52-54
  • 4.7 测头系统测量精度评价54-55
  • 4.8 本章小结55-56
  • 结论56-57
  • 参考文献57-62
  • 致谢62

【参考文献】

中国期刊全文数据库 前7条

1 石照耀;韦志会;;精密测头技术的演变与发展趋势[J];工具技术;2007年02期

2 侯茂盛;黄强先;杨朋桢;;基于聚偏氟乙烯(PVDF)薄膜的新型SPM测头结构及性能研究[J];工具技术;2009年05期

3 周耀新,王宏涛,王建梅;坐标测量机如何选用合适的测头探针[J];合肥工业大学学报(自然科学版);2004年10期

4 黄强先;王毛翠;赵剑;王广红;余惠娟;;石英音叉扫描探针显微镜[J];机械工程学报;2012年04期

5 朱训生,王超;各种球度测量方法的分析与展望[J];机械制造;2003年09期

6 刘冰;许黎明;柴运东;许开州;李冬冬;;基于精密球面磨床的球度在位测量方法[J];上海交通大学学报;2011年01期

7 杨雪荣;成思源;马登富;张湘伟;郭钟宁;;基于三坐标测量机实验教学的探索与实践[J];实验室研究与探索;2011年11期



本文编号:913504

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