非均匀采样系统的自校正控制

发布时间：2017-11-07 08:09

  本文关键词：非均匀采样系统的自校正控制

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【摘要】：目前对采样间隔时间相等即单率采样系统的辨识与控制方面的理论研究已相当成熟。但在现代日常生活和工业生产中,由于网络、信号通讯等方面的发展,传统的单率系统无法满足这些多变的需求,故发展出了多率系统。伴随着工业控制过程中对采样精度、实时性、控制精度等方面的需求,多率系统得到了广泛运用。非均匀采样系统是一种特殊的多率系统,由于其具备单率系统所不具备的多项优点,如今也得到了国内外学者越来越多的关注。本文基于非均匀采样系统的研究现状,提出了一种可控制非均匀采样系统的自校正控制算法。首先分解非均匀采样系统,将其转化为若干个子系统,然后将最小方差控制算法扩展运用至各个子系统,从而实现整个系统的自校正控制。其基本思想为实际输出跟踪期望输出,即令目标函数为实际输出与期望输出的方差,控制量即为能使目标函数为最小的输入。本文首先描述了非均匀系统中常见的三种采样方案,并对其中两种方案建立状态空间模型；再对状态空间模型的变量进行提升,接着采用递推最小二乘辨识算法对提升变量后的系统进行参数辨识,并对该辨识算法的收敛性进行证明；之后分析介绍了针对含白噪声无延时的非均匀采样最小相位系统的控制算法并对其有效性进行仿真验证；紧接着继续分析了针对含有色噪声带延时的非均匀采样非最小相位系统的控制算法并对其有效性进行仿真验证；最后基于两轴磨粉机这一实例,为该系统设计控制方案,同时通过取不同的噪声方差,观察信噪比对辨识效果和控制效果的影响；最终总结本文,说明本文不足之处并提出将来的研究方向。
【学位授予单位】：大连理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TP273

【参考文献】

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本文编号：1151553