一种检测闭环控制器及其全温稳定性验证

发布时间：2017-11-15 05:02

  本文关键词：一种检测闭环控制器及其全温稳定性验证

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【摘要】：提出一种基于比例—积分和相位超前校正的闭环控制器设计,并验证电路在全温状态下的稳定性。分析闭环控制器的工作原理和电路的设计方案,并对闭环控制器的电路进行了仿真,得到了比较理想的结果。证明了在驱动回路和检测回路较小频率差的前提下,可通过控制系统的优化达到拓展带宽的目的。在不同温度状态下检测电路的性能,实验结果显示温度不会影响控制器的稳定性,但会影响控制器的带宽。
【作者单位】： 中北大学电子测试技术重点实验室;
【基金】：中北大学电子测试技术重点实验室开放基金项目(ZDSYSJ2015004)
【分类号】：TP273
【正文快照】： 硅微机械陀螺仪用于测量输入角速率信息,最得了较大进步,部分研究院所已经研制了中、高精早出现于上世纪八九十年代,其基于哥氏效应原理度的样机和产品,但由于加工工艺和集成电路等技采用MEMS加工工艺制成,拥有体积小、成本低、重术的限制,国产硅微机械陀螺仪性能与国外还有一

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本文编号：1188425