基于SOPC的~3He管读出电子学系统的研制
【图文】:
图 1-1 中国散裂中子源系统示意图中子衍射技术年来,随着国内外中子技术应用范围的加深加广,中子探测的实验装置衍射谱仪成为世界各国科学家研究的热点。中子以其独有的优势成为在观世界时的宠儿。在研究物质的微观性质时,中子散射技术中的分支—术与X射线衍射是十分重要的两大研究工具[5]。中子散射的原理是:当通直器的中子束照射样品上时,与样品的原子核发生碰撞而进行散射,最连接的谱仪进行收集,研究员使用谱仪分析可知道散射出来的中子的能化进而计算获得物质的结构信息。在探索和研究一些具体的结构问题时仅可以同 X 射线衍射相互补充和配合使用,,而且中子衍射的探测效果比有利和更有效[6];在中子衍射技术中,粉末衍射法具有全部晶体学和磁结
中子结构分析的基本原理有:晶体结构分析、磁结构分析和小角散射。小角散射是指直射束附件的衍射,如图1-2所示的微型脉冲强子源的小角谱仪设计示意图[11],其工作原理为:在质子加速器中产生的高速、高能量的质子去轰击重金属耙(如钨耙),其原子核被质子打碎后发生裂变而散射出通量短脉冲短的中子,在慢化器进行减速后由过滤器选择出单一波长的中子,接着经过准直器打到待测样品上后中子发生散射,散射出来中子由各个方向的谱仪进行接收和探测。散射后中子的位置信息通过二维位置灵敏探测器3He
【学位授予单位】:华南理工大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:TL817
【参考文献】
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本文编号:2685078
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