测试基于SiPM的半连续晶体PET探测器
发布时间:2021-02-23 23:28
本工作搭建了两个具有深度编码能力的、由硅光电倍增管阵列单端读出的半连续晶体PET探测器,并测试了它们的性能。第一个半连续晶体探测器由11个1×11.6×10立方毫米的抛光LYSO(硅酸钇镥)晶片组成。晶片之间用光学胶和多层镜面反射膜固定,最外层的晶片外侧也包裹该反射膜,晶体的顶面及包含所有晶片的那两个侧面不使用反射膜,晶体的底面与一个4×4的硅光电倍增管阵列耦合,信号通过行列相加电路读出,其中4路行信号根据闪烁光分布的重心在切割方向上定位,4路列信号通过最小二乘法或最大似然法同时定位事件在连续及深度方向上的位置。该探测器和一个1×1×20立方毫米的LYSO晶条符合,电子准直22Na点源的射线,以1毫米的间距在连续和深度方向上分别照射晶体上108个位置并采集数据。晶片能量分辨率的均值为14.9%,所有晶片清晰可辨,存在于连续晶体中的边缘效应被清楚的观察到。引入平均绝对误差(MAE)来评估定位精度,其定义是:定位误差绝对值的概率加权平均。与重心法相比,最小二乘法和最大似然法都改善了晶体边缘的位置分辨率且定位精度相近,在连续和深度方向都取得了均值约为1.15毫米的MAE位置分辨率。第二个半连...
【文章来源】:兰州大学甘肃省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:90 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图3三种常用的深度编码PET探测器示意周??
射伽马射线造成的散射符合的几率,所有固定件均为塑料材质,盒子周围保持空??旷,探测器的安装高度也刻意抬高,远离铝板和大理石实验台。??图7?(b)是刻度位置及坐标系示意图^?一共有9X12个刻度点.,深度方向??(z方向)9个点,连续方向(y方向)12个点,彼此间隔1mm,起始点在连续??方向距离晶体边缘0.3?mm,在深度方向距离晶体边缘1?mm。晶体边缘的位置通??过测量:符合计数率曲线来确定,具体方法是:控制步进电机带动符合探测器沿固??定方向等距移动,观察计数率的变化,计数率下降到一半时,从二维移动平台的??显示屏上读取此时的坐标,作为晶体边缘。每个刻度位置记录18000个事件,随??机选取70%的事件作为刻度数据,30%的事件作为测试数据。.刻度数据被用来调??整算法的参数,测试数据被用来当作位置未知的事件,来测试算法性能。整个实??验装置处在室温中
去除多次散射事件前后,位置(0:3,9)处(
本文编号:3048411
【文章来源】:兰州大学甘肃省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:90 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图3三种常用的深度编码PET探测器示意周??
射伽马射线造成的散射符合的几率,所有固定件均为塑料材质,盒子周围保持空??旷,探测器的安装高度也刻意抬高,远离铝板和大理石实验台。??图7?(b)是刻度位置及坐标系示意图^?一共有9X12个刻度点.,深度方向??(z方向)9个点,连续方向(y方向)12个点,彼此间隔1mm,起始点在连续??方向距离晶体边缘0.3?mm,在深度方向距离晶体边缘1?mm。晶体边缘的位置通??过测量:符合计数率曲线来确定,具体方法是:控制步进电机带动符合探测器沿固??定方向等距移动,观察计数率的变化,计数率下降到一半时,从二维移动平台的??显示屏上读取此时的坐标,作为晶体边缘。每个刻度位置记录18000个事件,随??机选取70%的事件作为刻度数据,30%的事件作为测试数据。.刻度数据被用来调??整算法的参数,测试数据被用来当作位置未知的事件,来测试算法性能。整个实??验装置处在室温中
去除多次散射事件前后,位置(0:3,9)处(
本文编号:3048411
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