基于样本空间排序法的电子器件抗瞬时电离辐射性能评估方法

发布时间：2022-10-05 20:23

　　针对瞬时电离辐射效应考核中应用经典非参数法存在信息利用率低,评价结果过于保守的问题,本文在识别出瞬时电离辐射效应数据在统计意义上属于Ⅰ型区间删失数据的基础上,利用样本空间排序法,开展电子器件抗瞬时电离辐射性能评估研究。首先,基于无失效数据开展了理论分析和实例计算,并将计算结果与经典非参数法的计算结果进行了对比,结果表明,样本空间排序法提高了信息利用率,不仅可以增大生存概率置信下限,而且将置信下限所对应的吸收剂量率上限从最小值增大到几何平均值。其次,开展了失效分布模型的试验研究,根据瞬时电离辐射效应特点,提出以Ⅱ型区间删失数据为数据源获取经验生存函数,通过最小二乘法拟合经验生存函数用于计算相关系数,根据相关系数及对失效机理的分析,认为商用静态存储器翻转效应服从对数正态分布的可能性最大。最后,基于再抽样技术的蒙特卡罗模拟结果表明,样本空间排序法在高生存概率区间的计算结果具有保守性。 

【文章页数】：7 页

【文章目录】：
1 数据类型识别
2 优异性
    2.1 理论分析
    2.2 实例计算
3 失效分布模型
    3.1 经验生存函数的获取
    3.2 相关系数计算
    3.3 失效分布模型的确定
4 保守性
5 结论


【参考文献】：
期刊论文
[1]0.18μm CMOS电路瞬时剂量率效应实验研究[J]. 王桂珍,林东生,齐超,白小燕,杨善潮,李瑞宾,马强,金晓明,刘岩.  原子能科学技术. 2014(11)
[2]样本空间排序法评价瞬时辐照无失效数据研究[J]. 白小燕,林东生,王桂珍,李瑞宾,马强,齐超.  强激光与粒子束. 2013(10)
[3]Ⅰ型区间删失数据下产品可靠度的置信下限[J]. 魏中鹏,陈家鼎.  应用数学学报. 2006(01)
[4]关于无失效数据情形下的置信限[J]. 陈家鼎，孙万龙，李补喜.  应用数学学报. 1995(01)



本文编号：3686446