一种变曲率面晶体X射线检测技术

发布时间：2022-10-05 23:30

　　在惯性约束聚变光谱诊断物理实验研究中,晶体衍射后X射线光谱信号较弱,需要高收光效率及宽频谱范围的光谱诊断仪器.在传统锥面弯曲晶体基础上提出变曲率弯晶多能点成像技术,该技术具有宽频谱范围、强聚焦能力、高光谱分辨的特点.在晶体衍射成像结构设计中,由于能够确保成像光线的旋转对称性,因此在原理上可消除传统弯晶X射线衍射成像像差.利用研制的变曲率面石英晶体对钛靶X射线源进行X射线聚焦检测,并与同种材料的平面晶体进行收光效率对比,实验结果表明该变曲率面石英晶体的收光效率可以达到平面石英晶体的100倍,检测X射线能量范围为4.51～5.14keV.该晶体谱仪结合X射线条纹相机能够检测宽频谱范围的微弱X射线信号,条纹相机探测面可与晶体检测光路方向垂直布局. 

【文章页数】：8 页

【文章目录】：
0 引言
1 宽频谱弯曲晶体谱仪
    1.1 圆柱与圆锥面晶体谱仪
    1.2 变曲率面晶体检测原理
    1.3 晶体面形误差影响分析
2 变曲率面晶体X射线检测实验与结果
3 结论


【参考文献】：
期刊论文
[1]用于软X射线图像诊断的CMOS探测系统[J]. 韦敏习,侯立飞,杨国洪,刘慎业.  强激光与粒子束. 2014(12)
[2]极化X光谱诊断铝激光等离子体的电子密度[J]. 王洪建,肖沙里,施军.  光子学报. 2011(08)
[3]用极化晶体谱仪探测X射线极化度[J]. 施军,肖沙里,王洪建,唐昶环,钱家渝.  光子学报. 2009(02)



本文编号：3686708