荷电液滴破碎机理及电流体动力学特性研究
【学位单位】:江苏大学
【学位级别】:博士
【学位年份】:2015
【中图分类】:O35
【部分图文】:
将带电液滴射入气流而非真空环境。当荷电微液滴在电场中经过"热气流"时,??它们被蒸发,液滴半径不断减小,最终表面电荷密度达到达到Rayleigh极限状态,??发生所谓的"库仑破碎"行为,产生气化离子(图1.1)。对此DoleliU?(1968)和??lribame[i2](?1975)分别提出了?CRM(Charge?Residue?Model)和?IEM(Ion?Evaporation??Model)模纸进行解释。CRM模型认为:"库仑破巧"是一个不断重复的过巧,当??液滴中的溶剂挥发完后,即得到了所需的气相离子;旧M模型认为:蒸发和库仑??破碎使得液滴的直径不断减小,W致于液滴最终依靠自身的电场将溶质离子释放??到气相空间中。不管最终那种理论更好地揭示了破碎机理,电雾化技术的成功应??用,降低了质谱测量对溶液挥发性的要求;同时能够使分子携带大量的电荷,提??高了离子的荷质比,从而提高了仪器灵敏度与测量的精度。这对于检测生物领域??易分解的有机大分子有着极其重要的意义。耶鲁大学教授Dr.?John?Fen在1988年??提出的这种电喷射离子化质谱仪精确测量蛋白子分子质量的构想与实验证据使其??获得2002年诺贝尔化学奖,这也充分体现了静电雾化在生物工程领域的研究价值。??近年来
成为目前技术领域研究的热点。由于通过静电雾化方法的有效控制可W得到尺度??范围较宽?Ic耐的荷电微液滴,具有极好的单分散性[…7],且电雾化设备较??为简单,在常溫常压下工作,此项技术被成功应用于纳米材料的制备(图1.2)。??特别是雾化形成的荷电微液滴群能够很好的吸附在基底上,这使得微通道静电雾??化更多地用于制备各种纳、微米薄膜。??fWW\J?发热元件??X?、■?基底??高压静电发生H?\雾化射流??A?m??000?化也w?H因??=喷嘴!画"\冢送溶液??AI?(蠕动冢)??¥??图1.2纳米薄膜制备装置??Fig?1.2?Nano?化in?巧Im?preparation?device??Gourari等(2000)采用静电雾化方法制备了?Sn〇2-M化〇3多层薄胺材料(<10??//W),研制了用于监测易燃、有毒气体的传感器纳件。鉴于TK)2薄膜具有广泛的??工程应用背景,Chen等(1999)用静电雾化方法制备了?Ti化薄膜。对薄膜样品??的分析结果表明:W静电雾化方法制备的Ti化薄膜具有任意密度,薄膜均匀等显??著优点。Su等(2000)利用静电雾化结合蒸发沉降技术,制备了?CdS薄膜(<10??这一技术解决了?W往化学浴沉降法的污染问题和抛洒热解法的低效能问题。??KimPil?(2000)在普通静电雾化装置上安装了特殊的"导向加热源",并1^^此制备??了?MgO薄膜;实验过程中通过改变导向加热器和基面的温度,他们得到了?34-87^??/分钟的薄膜生长速度。MiaoPSl?(2000)基于静电雾化方法对Zr〇2和SiC陶瓷颗??粒(<10^m)的悬浮液进行了雾化特性研究。分析表明
指出液体静电雾化时,喷嘴尖端会在一定条件下形成一锥形液柱(称为??Taylor?Cone,泰勒锥),并发现毛细管出口处圆锥液面的理论半锥角为49.3°,随??后通过分析弯月形锥形液柱中的力平衡问题得到泰勒锥的产生原理(图1.4?),??Taylor的送些开拓性的研究工作为静电雾化的数值模拟研究奠定了基础。??7??
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