氧化锡基薄膜压敏电阻的制备及其性能研究

发布时间:2021-03-04 19:49
  压敏电阻器被广泛地应用于各类电子设备和电力系统中,抑制瞬时高压、输电线路浪涌电流。然而,日益发展的科学技术促使小尺寸、低压化的新型薄膜压敏电阻器的研究迫在眉睫。目前已报道的SnO2基薄膜压敏电阻制备工艺复杂、样品非线性系数低且压敏电压较高。因此,本论文采用射频磁控溅射技术沉积得到缺氧型氧化锡薄膜,之后将其分别浸没于Sb2O3、Ta2O5、Nb2O5粉末中进行热渗处理。该方法在降低氧化锡晶粒电阻的同时提高晶界电阻,从而在氧化锡晶界处构建有效的双肖特基势垒,获得系列高性能SnO2-x-Sb2O3、SnO2-x-Ta2O5、SnO2-x-Nb2O5薄膜压敏电阻。(1)采用射频磁控溅射的方法沉积得到缺氧型氧化锡薄膜,并且系统地研究了O2<... 

【文章来源】:中国地质大学(北京)北京市 211工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:122 页

【学位级别】:博士

【部分图文】:

氧化锡基薄膜压敏电阻的制备及其性能研究


SnO2晶体结构示意图(王春明,2007)

I-V特性曲线,I-V特性曲线,电阻


9晶格内部产生一定程度的缺陷,从而获得性能优异的SnO2基压敏材料。Aguilar-Martínez等人制备出了Co3O4、Sb2O5和Cr2O3掺杂的SnO2压敏电阻(Aguilar-MartínezJA,2009);Brandkovic等人在SnO2陶瓷体系中同时掺杂Cr2O3和Nb2O5,并详细讨论了Cr2O3和Nb2O5的添加量对SnO2基陶瓷压敏电阻压敏性能的影响(BrankoviG,2005)。(3)TiO2基压敏电阻。1982年,贝尔实验室首先了报道了TiO2低压压敏电阻,随后有许多科研工作者投入TiO2基压敏电阻的探索中。其中,Yan等人利用粉末加工制备并在1400℃强化烧结处理,获得高非线性系数的低压TiO2基压敏电阻(YanMF,1982)。TiO2压敏电阻的低压敏电压特性、高非线性系数、高介电常数等突出优势使得其具有广阔的研究前景。1.4.1压敏电阻的电学特性压敏电阻最显著的特性即为非线性电流-电压行为。在一定的电流密度范围内,通过压敏电阻的电流值随外加电压的变化呈非线性变化。了解压敏电阻电压-电流曲线图,可以初步判断压敏材料不同阶段的导电特性,有助于更深入地分析其导电机制。典型压敏电阻的非线性I-V特性曲线如图1-2所示(TapanKG,1990)。该曲线中可被划分为三个区域:(1)低电流线性区:也称为预击穿区,该区域内线性阶段的I-V特性符合欧图1-2压敏电阻的典型非线性I-V特性曲线(GuptaTK,1990)。Fig.1-2TypicalnonlinearI-Vcharacteristiccurvesofvaristors.

电压图,晶界,势垒,偏置


12中电流区之间的过渡区域的导电机理,此模型无法合理地进行解释。因此,Mahan提出空穴并生的隧道肖特基势垒模型(MahanGD,1979),即将电子穿越晶界的过程分为两步,即电子首先从晶粒到晶界层界面,然后穿过晶界层到达相邻的晶粒。当外加电场较低时,电流主要由电子热激发产生,少数载流子会迁移到晶粒的晶界处并与电子中和,从而束缚电荷在晶界与晶粒之间形成定向流动,使得压敏电阻中产生小电流。当外加电场逐渐接近击穿场强,电子穿过晶界层进入右侧晶粒时,仅有少量电子能通过较窄的右侧势垒而产生隧道效应,而随外加电场持续增强,通过隧道效应进入右侧晶粒的电子数目逐渐越多,故电流-电压曲线能够平滑地由低电流区过渡到中电流区。图1-3偏置电压低于压敏电阻时晶界势垒的畸变(臧国忠,2006)。Fig.1-3Distortionofgrainboundarybarrierwhenbiasvoltageislowerthanthevaristorvoltage.(2)中电流区。此区域的导电机理主要包括势垒消失机理和隧道电流机理。学者们对隧道电流机理进行了逐步完善:1975年,Levinson等人在双肖特基势垒的基础上提出了晶界层隧道电流模型(LevinsonLM,1975),该模型假设晶界层是一个高阻层,其厚度约为0.1μm;1976年,Morris等人提出双肖特基势垒隧道电流模型(MorrisWG,1976),很好地解释了压敏电阻在中电流区的非线性行为产生原因;之后,Mahan提出了空穴生成隧道电流模型(MahanGD,1979),该模型能够解释压敏电阻非线性系数达到50-100的导电机理。(3)高电流区。压敏电阻的耗尽层已经全部消失,材料的电学特性主要由晶

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本文编号:3063808

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