InAs/AlSb HEMTs器件研究及LNA电路设计

发布时间:2021-05-31 17:42
  与传统半导体器件GaAs和GaN HEMTs相比,InAs/AlSb HEMTs作为典型的锑基化合物半导体(ABCS)器件具备更高的电子迁移率和电子饱和漂移速度,在高速、低功耗、低噪声等应用方面拥有良好的发展前景。特别在深空探测方面,InAs/AlSb HEMTs作为深空探测的低噪声放大器(LNA)的候选核心器件具有无可比拟的优势。因此,本文针对InAs/AlSb HEMTs器件开展了系统研究,在器件特性研究、模型建立、电路设计及制备工艺等方面进行了较为深入的探讨,填补了我国在该领域的空白。对InAs/AlSb HEMTs器件结构及工作机理进行了分析,并对器件特性进行了研究,发现由于窄带隙及Ⅱ类能带交错结构的影响, InAs/AlSb HEMTs存在较大栅极漏电流,同时碰撞离化效应对其直流和RF影响显著。在此基础上,研究了适用于InAs/AlSb HEMTs的小信号等效电路模型,并对传统模型参数提取方法做出改进。对InAs/AlSb HEMTs器件的噪声进行理论分析,建立了改进小信号噪声模型,引入ing和ind分别表示栅极热噪声和漏极热噪声,同时在栅极附加另外的一个噪声源ing,s来表... 

【文章来源】:西安电子科技大学陕西省 211工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:133 页

【学位级别】:博士

【部分图文】:

InAs/AlSb HEMTs器件研究及LNA电路设计


图1.1?ESA用于深空探测低温LNA应用材料发展动态PI??

禁带宽度,半导体材料,晶格常数,波长


?/??^^??图1.1?ESA用于深空探测低温LNA应用材料发展动态PI??1.2?InAs/AlSb?HEMTs?器件的优势??InAs/AlSb?HEMTs是一种典型的锦化物半导体器件。所谓铺化物半导体??(ABCS,?Antimonide?Based?Compound?Semiconductors)特指由?III?族兀素与?V?族??元素组成的化合物,其晶格常数一般在0.61?nm左右范围,因此被称作"0.61?nm??III-V族材料"口]。如图1.2所示,InSb,GaSb,AlSb,?InAs等材料其晶格常数均??在化6-0.64?nm之间,为典型的ABCS材料。与传统的SiC和GaAs半导体材料相??比,ABCS材料的禁带宽度较窄,且其禁带宽度可W通过改变基本材料组合方式??的方法在一定的范围内进行调节,除此之外,其具备较高的电子迁移率和电子速??率,这些特点使其在超高速低功耗上具备广泛的应用前景。与此同时,ABCS材料??的异质结材料拥有十分丰富的能带结构

半导体材料,晶格常数,能带图,材料


?/??^^??图1.1?ESA用于深空探测低温LNA应用材料发展动态PI??1.2?InAs/AlSb?HEMTs?器件的优势??InAs/AlSb?HEMTs是一种典型的锦化物半导体器件。所谓铺化物半导体??(ABCS,?Antimonide?Based?Compound?Semiconductors)特指由?III?族兀素与?V?族??元素组成的化合物,其晶格常数一般在0.61?nm左右范围,因此被称作"0.61?nm??III-V族材料"口]。如图1.2所示,InSb,GaSb,AlSb,?InAs等材料其晶格常数均??在化6-0.64?nm之间,为典型的ABCS材料。与传统的SiC和GaAs半导体材料相??比,ABCS材料的禁带宽度较窄,且其禁带宽度可W通过改变基本材料组合方式??的方法在一定的范围内进行调节,除此之外,其具备较高的电子迁移率和电子速??率,这些特点使其在超高速低功耗上具备广泛的应用前景。与此同时,ABCS材料??的异质结材料拥有十分丰富的能带结构

【参考文献】:
期刊论文
[1]Interfacial characteristics of Al/Al2O3/ZnO/n-GaAs MOS capacitor[J]. 刘琛,张玉明,张义门,吕红亮.  Chinese Physics B. 2013(07)
[2]射频电路的ADS设计仿真与分析[J]. 何苏勤,白天石.  微电子学. 2011(04)
[3]锑化物半导体材料与器件应用研究进展[J]. 刘超,曾一平.  半导体技术. 2009(06)

硕士论文
[1]InAs/AlSb HEMT器件特性与工艺研究[D]. 崔强生.西安电子科技大学 2014
[2]适用于无线局域网的CMOS低噪声放大器设计[D]. 关赫.西安电子科技大学 2009
[3]GaN HEMT器件等效电路宏模型与测试分析[D]. 陈昭祥.电子科技大学 2007
[4]砷化镓射频功率MESFET大信号模型研究[D]. 刘桂云.西安电子科技大学 2005



本文编号:3208682

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