成年腭裂患者颅面形态的X线头影测量研究

发布时间：2023-03-30 03:33

　　采用X线头影测量的方法对60例成年腭裂患者进行颅颌面部软硬组织测量,并与60例正常成人进行对照。结果发现,与对照组比较,硬组织方面腭裂患者SNA(上牙槽座角)、N-A-Po(颌凸角)和ANS-Ptm(上颌长)等结果偏小,差异有统计学意义(P<0.01);而软组织方面腭裂患者G-Sn-Po’(面型角)、ULP(上唇突度)减少,差异有统计学意义(P<0.01)。表明硬组织方面腭裂患者的上颌骨存在明显的发育不足、硬腭长度过短、下颌颏部前伸现象明显,下颌骨向下旋转及后退。而软组织方面腭裂患者面中1/3凹陷明显,上唇突度不足。

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【文章目录】：
1 材料与方法
    1.1 病例资料
    1.2 实验仪器
    1.3 研究方法
        1.3.1 拍摄条件
        1.3.2 X线头影侧位片的测量
        1.3.3 测量标志点及测量所需平面
        1.3.4 测量项目
    1.4 统计学处理
2 结果
3 讨论



本文编号：3775102