半导体激光和Pro-Argin脱敏膏治疗牙本质过敏症的研究

发布时间：2023-04-01 19:39

　　目的:研究半导体激光(810 nm)和Pro-Argin脱敏膏对牙本质过敏症症状缓解的疗效,并观察评估牙本质表面的变化。材料和方法:一、纳入30例确诊为牙本质过敏症患者的150颗牙齿,每个患者每个象限选择一颗牙齿作为实验牙和任意一个象限的牙齿作为对照牙,随机分为5组,即1.DP组(Pro-Argin脱敏膏),2.DL组(半导体激光),3.DL+DP组,4.DP+DL组和5.NS组(0.9%氯化钠),通过在基线(t0)、治疗后即刻(t1)、治疗后2周(t2)、4周(t3)和8周(t4)对选定牙齿进行空气刺激后,记录视觉模拟评分(VAS)并进行统计学分析。二、选择6颗新鲜拔出的无龋牙齿,制备成6个牙本质盘,每个牙本质盘平均分为5个区域编号后,随机分为5组,采用同实验一分组相同的治疗方法处理标本表面,每个区域用扫描电子显微镜(SEM)在3000倍下观察牙质表面的形态变化,在5000倍视野中截取3张图片共90张,由3位医生对每个牙本质小管的封闭效果进行评分,计算平均分记为每张图片的分值,将评分进行统计学分析。评分标准为:4分:牙本质小管封闭面积大于75%;3分:牙本质小管封闭面积50%-75%...

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【学位级别】：硕士

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中文摘要
英文摘要
前言
第一部分 半导体激光和Pro-Argin脱敏膏治疗牙本质过敏症临床效果观察
    1.材料和方法
    2.结果
    3.讨论
第二部分 半导体激光和Pro-Argin脱敏膏治疗牙本质过敏症的离体牙扫描电镜观察
    1.材料和方法
    2.结果
    3.讨论
结论
参考文献
综述
    参考文献
病例报告
致谢



本文编号：3777742