ESSEN评分结合头颅磁共振成像预测TIA后1年脑梗死的风险

发布时间：2021-09-29 19:02

　　目的：短暂性脑缺血发作（transient ischemic attack, TIA）是脑梗死的高级预警信号。TIA反复发作可进展为脑梗死，脑梗死具有高致残率及高死亡率。因此我们预测TIA患者发生脑梗死的风险，及早进行干预。目前为止，国内外许多研究分别证实ESSEN评分和头颅磁共振成像能预测TIA后脑梗死的风险。本研究首次探讨ESSEN评分结合头颅磁共振成像对TIA后1年脑梗死风险的预测价值。通过预测TIA后脑梗死的风险，有利于对TIA患者进行危险分层及优化治疗，防止TIA进展为梗死。方法：连续收集2009年9月至2011年1月首次发病7天内就诊于河北医科大学第二医院神经内科的TIA患者为研究对象，所有患者均行头颅磁共振检查。详细记录患者的病史、临床症状、既往史、家族史、不良嗜好及相关的辅助检查结果，并计算ESSEN评分及其与磁共振成像相结合的评分。TIA患者纳入研究后随访1年，脑梗死、死亡或随访至1年则终止随访。应用SPSS13.0对所有数据资料进行统计学分析,采用χ2检验分析计数资料；采用ROC曲线评估ESSEN评分及其与磁共振成像结合的新评分对TIA后1年发生脑梗死风险预测的准确... 

【文章来源】：河北医科大学河北省

【文章页数】：41 页

【学位级别】：硕士

【文章目录】：
摘要
ABSTRACT
前言
材料与方法
结果
附图
附表
讨论
结论
参考文献
综述 短暂性脑缺血发作的风险评估
    参考文献
致谢
个人简历


【参考文献】：
期刊论文
[1]ABCD评分和ESSEN评分预测TIA发生脑梗死的比较[J]. 李建平,赵中,程庆璋,方琪,赵合庆.  江苏大学学报(医学版). 2011(02)
[2]联合应用ESRS和血清总胆固醇预测脑梗死复发风险[J]. 赵宗友,刘守山,杨晓莉,康燕,孟凡浩.  安徽医药. 2010(11)
[3]短暂性脑缺血发作研究的历史、现状与未来[J]. 毕齐,王力锋,宋哲.  中国卒中杂志. 2009(06)
[4]短暂性脑缺血发作的中国专家共识[J]. 王伊龙.  中华内科杂志. 2007(10)



本文编号：3414287