双能量CT单能谱成像技术在颅内动脉瘤夹闭术后的应用

发布时间：2018-04-15 21:40

  本文选题：体层摄影术 + 伪影　； 参考：《临床放射学杂志》2015年05期

【摘要】：目的探讨Flash双能量CT单能谱成像技术去除颅内金属伪影用于颅内动脉瘤术后的临床应用价值。方法对40例颅内动脉瘤术后复查的患者使用Flash双源CT双能量扫描,并以10 ke V为间隔重组16组单能量图像。通过比较混合组和各ke V组图像的客观指标伪影指数(AI)、对比噪声比(CNR)以及主观图像质量评分(4分法),寻找单能谱去金属伪影最佳的ke V。结果 AI在120 ke V时达最小,CNR在90 ke V时最大,120 ke V之后的单能谱图像的主观评分之间无明显差异。利用单能谱软件获得最佳单能量成像条件为90~120 ke V,其图像均能满足诊断。结论双能量单能谱成像技术能够有效去除金属伪影,清晰显示颅内动脉瘤术后的细微结构。
[Abstract]:Objective to evaluate the clinical value of Flash dual energy CT single energy spectrum imaging in removing intracranial metal artifacts after intracranial aneurysm surgery.Methods 40 patients with intracranial aneurysms were examined with Flash dual source CT dual energy scan and recombined with 10 Kev interval in 16 groups of single energy images.By comparing the objective index artifact index of mixed group with that of each keV group, comparing the noise ratio (CNR) and subjective image quality score (4 points method), we found the best single energy spectrum de-metal artifact (ke V).Results there was no significant difference between the subjective scores of single energy spectrum images with AI at 120 Kev and minimum CNR at 90 Kev after the maximum of 120 Kev.The optimal single energy imaging condition is 90 ~ 120ke V by using single energy spectrum software, which can satisfy the diagnosis.Conclusion Dual-energy single energy spectrum imaging can effectively remove metal artifacts and clearly show the fine structure of intracranial aneurysms after operation.
【作者单位】： 黄石市中心医院(
【分类号】：R743;R816.1

【参考文献】

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【共引文献】

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本文编号：1755920