压痕/划痕测试若干理论与基于自制仪器的试验研究

发布时间：2021-12-25 07:59

　　<正>本论文结合白光光弹法与光谱仪发展出创新的低双折射性物质应力量测理论-穿透率极值光弹理论（Transmissivity extremities theory of photoelasticity,TEToP）。基于薄膜干涉原理,本论文也发展出创新的大范围面积全局性厚度量测理论——角度射入干涉术（Angular incidence interferometry,AII）。藉由整合TEToP与AII之光路,本论文建立一可同时实行全场应力与厚度量测的系统化架设以检测使用于薄膜晶体管液晶显示器（Thin film transistor-liquid crystal display,TFT-LCD）的玻璃基板, 

【文章来源】：机械工程学报. 2016,52(02)北大核心EICSCD

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本文编号：3552086