基于VMM的SCU系统级测试

发布时间：2017-10-03 02:36

  本文关键词：基于VMM的SCU系统级测试

  更多相关文章： VMM测试技术 系统主控单元SCU 功能测试

【摘要】：在集成电路的开发过程中,测试一直处于十分重要的地位。现今基于知识产权IP(Intellectual Property)复用的片上系统SOC (System On Chip)芯片项目开发中,测试消耗的资源(比如人力消耗、时间消耗、服务器CPU占用、硬盘内存占用、EDA软件license占用等)已经占到整个项目开发资源的70%甚至更高。用户需求迫使芯片越做越复杂、支持的功能越来越多,一颗SOC芯片内部集成了多颗CPU,多颗DSP, VPU和GPU,以及为了支持多种接口的互联,需要集成多种接口IP。但市场的节奏又要求新产品推出周期越来越短,从而要求芯片研发周期进一步压缩,但支持的功能和各项性能指标并没有相应降低。解决这一矛盾的根本方法就是要求工程师们更高效的工作,即采用更高效的工具和工作方法。本课题来源于单位商用研发项目,研究在先进、高效的VMM(Verification Methodology Manual)测试环境下,实现一款应用于智能手机平台的模拟基带芯片ABB(Analog Base Band)系统主控单元SCU(System Control Unit)的系统级测试。首先研究先进、高效的VMM测试技术。该部分研究VMM技术的测试架构、特点以及使用该技术的完整测试流程。其次分析测试需求,对测试对象系统架构及各部分控制功能、测试场景进行深入分析,作为下一步开发实现测试点的唯一参考。该部分对测试对象顶层AHB (Advanced High-speed Bus)上挂载的各个模块在整个系统中所处位置、各模块的功能和相互之间的握手交互进行研究,重点对系统主控模块SCU各测试点覆盖所需的测试场景深入分析。然后是测试点的开发实现,基于实际测试场景,对测试对象各测试点开发测试用例完成测试。该部分根据实际测试对象的特点,开发了测试用例实现的一般结构,对所有测试点的测试,均可以参考此一般结构基于需要合理裁剪,最终覆盖到所有测试点的测试。最后对测试过程中遇到的各类问题进行分析及解决,该部分对测试过程中遇到的各类测试环境问题、测试代码问题深入挖掘根本原因,并给出有效解决办法。基于VMM测试技术的芯片级功能测试,实际测试结果表明,达到了预期测试目标。在充分保证测试质量的前提下,节约了测试时间,加速了产品上市。跟以往项目比较,在测试工作量提升一倍、人员配备基本不变的情况下,测试时间从原来的6个月缩短为4.5个月,提升测试效率至少30%,对芯片测试起到了很好的理论和实践指导作用。
【关键词】：VMM测试技术 系统主控单元SCU 功能测试
【学位授予单位】：西安电子科技大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：TP311.53
【目录】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-11
• 缩略语对照表11-15
• 第一章 绪论15-23
• 1.1 选题背景及意义15-16
• 1.2 国内外现状分析16-19
• 1.2.1 测试面临的难题16-18
• 1.2.2 解决测试问题的思路18-19
• 1.3 论文工作内容19-20
• 1.4 论文组织结构20-23
• 第二章 现有VMM测试技术23-29
• 2.1 测试技术的历史及比较23-24
• 2.2 VMM测试技术研究24-28
• 2.2.1 VMM测试技术特点26-27
• 2.2.2 VMM测试流程27-28
• 2.3 本章小结28-29
• 第三章 SCU功能研究及测试点设计实现29-61
• 3.1 硬件系统应用架构29-31
• 3.2 需求分析31-32
• 3.3 测试点设计实现32-58
• 3.3.1 复位reset32-41
• 3.3.2 中断处理41-45
• 3.3.3 SCU顶层控制45-47
• 3.3.4 环回测试loopback47
• 3.3.5 e-Fuse控制47-51
• 3.3.6 寄存器访问测试51
• 3.3.7 Security安全访问51-58
• 3.4 本章小节58-61
• 第四章 SCU系统测试61-91
• 4.1 测试环境说明61-64
• 4.2 测试工具介绍64-66
• 4.3 测试环境配置66-67
• 4.4 测试用例管理67-68
• 4.4.1 回归列表(Regression list)67-68
• 4.5 测试用例开发68-77
• 4.5.1 测试用例实现的一般结构68-71
• 4.5.2 上电复位测试用例实现71-74
• 4.5.3 中断测试用例实现74-77
• 4.6 测试执行及结果分析77-89
• 4.6.1 测试执行77
• 4.6.2 上电启动复位测试结果分析77-81
• 4.6.3 中断测试结果分析81-86
• 4.6.4 测试报错原因分析及解决思路86-89
• 4.7 本章小结89-91
• 第五章 结束语91-93
• 5.1 论文工作总结91-92
• 5.2 后续工作展望92-93
• 参考文献93-95
• 致谢95-97
• 作者简介97

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本文编号：962713