光电子产品生命周期质量管理关键技术研究
发布时间：2021-01-24 22:13
21世纪是质量的世纪,光电子产业是21世纪的支柱产业之一。如何以“世界级质量”参与全球行业竞争,成为我国广大光电子企业存亡的重大问题。论文通过对质量管理理论及方法的研究,以及光电子产品及其质量管理特点的分析,提出了光电子产品生命周期质量管理模型,并对模型实现的若干关键技术进行了研究。（1）论文研究了光电子产品及其质量管理特点,提出了光电子产品生命周期质量管理模型,该模型以客户需求为驱动,以六西格玛质量过程控制为对象,强调基于事实和数据的质量管理。其目的在于提升企业的质量优势,获得客户的持续满意,从而提高企业的核心竞争力。（2）从客户需求的类型着手,针对客户需求为驱动的光电子产品生命周期质量管理特点,提出了基于Web的客户需求获取方法,研究了基于模糊理论的客户需求聚类分析方法,并给出了应用实例。（3）为将客户需求贯穿于产品生命周期各个阶段,论文研究并建立了客户需求向技术特征项映射的质量屋,给出了技术特征项重要度的计算方法,有助于企业更有效理解并实现客户需求。（4）论文研究了光电子产品六西格玛质量过程控制的实现方法,提出了四层质量监控模式以保证过程控制高质量的实现,提出了基于PDCA环和D...
【文章来源】：武汉理工大学湖北省 211工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：135 页
【学位级别】：博士
【部分图文】：
光电子企业产品生命周期质量管理模型
4一1所示的距离计算结果。井舞舞粼麟葬麟嫩黔附{释黝攀理图4一 3SPSS13.0分层聚类分析界面璧璧翻巍 巍蒸翰薰薰薰薰薰薰薰夔粼薪巍i蜘瘾蕙巍鬓薰藩:羹奋瘾臀重觑撼姗摹 摹羹 羹羹毅徽】葬篡 篡篡 篡葵葵摧鳝 鳝 鳝纂歉赢俪涵赢赢赢而丽丽硫孤 孤渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝 渝 渝轰轰轰岌了钾邢一，写必必潮礁骂i，
下面以案例企业VH045AFE产品贴片工序质量检验数据为例。该工序主要完成芯片的贴片工作，对加工完成后的芯片进行全检。其产品不合格率要求控制在p=0.005，其显著性水平。=5%。工序检测数据录入界面如图5一5所示。该检验数据即包含计件型数据(芯片是否合格即合格品数)，也包含计点型数据(每一块芯片上缺陷数)。显然，针对不同的数据类型，应该采取不同的控制图方法。本节拟针对2005年7月29日，1号生产线vH045AFE产品(CK一NG批号)为例，通过前述的3种方法进行控制图的绘制与分析比较，所获取的样本数据如表5一2所示。
【参考文献】：
期刊论文
[1]面向产品生命周期的质量信息模型研究与实践[J]. 邓超,周献振,吴军,游本善. 计算机应用研究. 2007(07)
[2]统计控制图的异常判断准则分析[J]. 郭彦兰,崔利荣,张晨宇. 数理统计与管理. 2007(03)
[3]中国光电产业现状与中国光学光电子行业协会发展[J]. 王琳. 激光与红外. 2006(S1)
[4]液晶显示器件的背光源新技术[J]. 季旭东. 灯与照明. 2006(04)
[5]六西格玛管理中小波动控制图[J]. 柴文义. 中国统计. 2006(12)
[6]面向产品生命周期的质量数据模型[J]. 唐晓青,胡云,王雪聪. 北京航空航天大学学报. 2006(10)
[7]6σ质量水平下的连续合格链长控制图及其控制界的优化[J]. 吴德会,杨世元,董华. 系统工程理论方法应用. 2006(05)
[8]数字化质量管理系统及其关键技术[J]. 张根保. 中国计量学院学报. 2005(02)
[9]用层次分析法（AHP）确定QFD中客户需求权重[J]. 尉少坤,李淑娟,李言. 机械设计与制造. 2005(06)
[10]面向产品生命周期的全面质量管理系统[J]. 邓军,余忠华,杨基平,丁鼎,吴昭同. 浙江大学学报(工学版). 2005(04)
博士论文
[1]基于SPC的计算机集成质量控制系统研究[D]. 李钢.合肥工业大学 2007
[2]面向过程集成的钢铁企业质量管理研究[D]. 刘彩燕.大连理工大学 2006
[3]基于质量信息集成的智能质量控制技术研究[D]. 吴德会.合肥工业大学 2006
[4]产品设计的模糊质量功能配置技术研究[D]. 崔勇.哈尔滨工程大学 2006
[5]基于粗糙集的产品规划质量屋构建研究[D]. 李延来.西南交通大学 2006
[6]多工序制造过程质量分析方法与信息集成技术研究[D]. 戴敏.东南大学 2006
[7]复杂多品种制造系统质量管理方法与应用研究[D]. 聂斌.天津大学 2005
[8]质量链管理及其若干关键技术研究[D]. 谢强.南京航空航天大学 2002
[9]QFD在质量信息传递中的运用研究[D]. 朱正萱.南京理工大学 2002
硕士论文
[1]面向大规模定制的客户需求信息系统研究[D]. 岳同启.大连理工大学 2004
本文编号：2998025
【文章来源】：武汉理工大学湖北省 211工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：135 页
【学位级别】：博士
【部分图文】：
光电子企业产品生命周期质量管理模型
4一1所示的距离计算结果。井舞舞粼麟葬麟嫩黔附{释黝攀理图4一 3SPSS13.0分层聚类分析界面璧璧翻巍 巍蒸翰薰薰薰薰薰薰薰夔粼薪巍i蜘瘾蕙巍鬓薰藩:羹奋瘾臀重觑撼姗摹 摹羹 羹羹毅徽】葬篡 篡篡 篡葵葵摧鳝 鳝 鳝纂歉赢俪涵赢赢赢而丽丽硫孤 孤渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝渝 渝 渝轰轰轰岌了钾邢一，写必必潮礁骂i，
下面以案例企业VH045AFE产品贴片工序质量检验数据为例。该工序主要完成芯片的贴片工作，对加工完成后的芯片进行全检。其产品不合格率要求控制在p=0.005，其显著性水平。=5%。工序检测数据录入界面如图5一5所示。该检验数据即包含计件型数据(芯片是否合格即合格品数)，也包含计点型数据(每一块芯片上缺陷数)。显然，针对不同的数据类型，应该采取不同的控制图方法。本节拟针对2005年7月29日，1号生产线vH045AFE产品(CK一NG批号)为例，通过前述的3种方法进行控制图的绘制与分析比较，所获取的样本数据如表5一2所示。
【参考文献】：
期刊论文
[1]面向产品生命周期的质量信息模型研究与实践[J]. 邓超,周献振,吴军,游本善. 计算机应用研究. 2007(07)
[2]统计控制图的异常判断准则分析[J]. 郭彦兰,崔利荣,张晨宇. 数理统计与管理. 2007(03)
[3]中国光电产业现状与中国光学光电子行业协会发展[J]. 王琳. 激光与红外. 2006(S1)
[4]液晶显示器件的背光源新技术[J]. 季旭东. 灯与照明. 2006(04)
[5]六西格玛管理中小波动控制图[J]. 柴文义. 中国统计. 2006(12)
[6]面向产品生命周期的质量数据模型[J]. 唐晓青,胡云,王雪聪. 北京航空航天大学学报. 2006(10)
[7]6σ质量水平下的连续合格链长控制图及其控制界的优化[J]. 吴德会,杨世元,董华. 系统工程理论方法应用. 2006(05)
[8]数字化质量管理系统及其关键技术[J]. 张根保. 中国计量学院学报. 2005(02)
[9]用层次分析法（AHP）确定QFD中客户需求权重[J]. 尉少坤,李淑娟,李言. 机械设计与制造. 2005(06)
[10]面向产品生命周期的全面质量管理系统[J]. 邓军,余忠华,杨基平,丁鼎,吴昭同. 浙江大学学报(工学版). 2005(04)
博士论文
[1]基于SPC的计算机集成质量控制系统研究[D]. 李钢.合肥工业大学 2007
[2]面向过程集成的钢铁企业质量管理研究[D]. 刘彩燕.大连理工大学 2006
[3]基于质量信息集成的智能质量控制技术研究[D]. 吴德会.合肥工业大学 2006
[4]产品设计的模糊质量功能配置技术研究[D]. 崔勇.哈尔滨工程大学 2006
[5]基于粗糙集的产品规划质量屋构建研究[D]. 李延来.西南交通大学 2006
[6]多工序制造过程质量分析方法与信息集成技术研究[D]. 戴敏.东南大学 2006
[7]复杂多品种制造系统质量管理方法与应用研究[D]. 聂斌.天津大学 2005
[8]质量链管理及其若干关键技术研究[D]. 谢强.南京航空航天大学 2002
[9]QFD在质量信息传递中的运用研究[D]. 朱正萱.南京理工大学 2002
硕士论文
[1]面向大规模定制的客户需求信息系统研究[D]. 岳同启.大连理工大学 2004
本文编号：2998025
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