基于概率转移矩阵的全加器可靠性分析

发布时间：2017-10-18 11:29

  本文关键词：基于概率转移矩阵的全加器可靠性分析

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【摘要】：基于量子元胞自动机(QCA)电路,通过贝叶斯网络(Bayesian network,BN)对7种不同的传输线建模,研究了基本传输线的输出正确率随温度的变化规律。另外,通过概率转移矩阵(PTM)研究了7种不同结构的全加器的整体可靠性和输出Si以及进位输出Ci+1的平均输出错误率随错误因子的变化规律,并研究了各器件单元对全加器整体可靠性的影响。仿真结果表明,对于只有1个元胞宽度的传输线,直线型传输线有最高的可靠性,而且通过增加传输线的宽度可以提高传输线的可靠性。电路的可靠性不仅与电路结构有关,而且与电路器件单元的类型和门的数量密切相关。而且,产生进位输出Ci+1的择多门对电路的整体可靠性的影响最大,但不同的全加器的进位输出有相同的可靠性。
【作者单位】： 合肥工业大学电子科学与应用物理学院;
【关键词】： 量子元胞自动机(QCA) 可靠性 贝叶斯网络(BN) 概率转移矩阵(PTM) 全加器
【基金】：国家自然科学基金资助项目(61271122)
【分类号】：TB114.3
【正文快照】： 0引言自CMOS技术被提出以来集成电路得到了迅猛的发展。然而,随着其物理尺寸的逐渐减小,器件本身所带来的问题日渐突出,如漏电流等[1-2]。为了解决此类问题,科研人员提出了不同类型的新型纳米器件,如单电子晶体管、共振隧道二极管和碳纳米管等。1993年,C.S.Lent等人[3]和Y.Tan

【相似文献】

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1 林丽芬;全加器的几种设计方法[J];福建商业高等专科学校学报;2004年03期

2 ;[J];;年期

，

本文编号：1054666