X光条纹相机谱响应定量化

发布时间：2017-11-22 06:28

  本文关键词：X光条纹相机谱响应定量化

  更多相关文章： X光条纹相机 X光CCD 平焦场光栅谱仪 谱响应标定 时空分辨

【摘要】：X光条纹相机的高时空特性和高灵敏度特性使其在医学、化学、动态光谱学等超快诊断领域中得到广泛的应用,同时在惯性约束聚变(ICF)的研究中扮演着非常重要的角色。随着ICF研究的不断深入,需要更高性能的诊断设备来更加准确的分析激光聚变中复杂的物理过程,需要获得一些参数的绝对量,如黑腔温度、反照率、转换效率、辐射谱等,利用这些参数就可以推算出内爆、烧蚀、输运等物理过程。而现阶段我们利用X光条纹相机只能测出辐射谱的相对量,而非绝对量。所以我们在提高X光条纹相机的时空分辨、动态范围、线性度等特性的同时,还需要对条纹相机的谱响应进行标定。本文以标定条纹相机的谱响应为目的,设计了一套全新有效的标定方案。主要工作内容如下:1)分析研究国内外各种分光仪器的特性和X射线的探测设备,最终选用全息平焦场光栅谱仪作为本实验的分光设备,X光CCD作为标定的基准。2)重新标定了X光CCD的谱响应。3)设计了两套平焦场光栅谱仪。4)基于2×100J的小型激光打靶装置,搭建实验平台,对X光条纹相机进行谱响应标定。首先调节光栅的入射角,使入射角等于88.6°(此步骤不安装X光CCD和条纹相机)。角度调节好之后再安装X光CCD和X光条纹相机,分别对碳氢聚合物、Al、Ta、Cu等物质进行打靶实验,由于激光器的能量不可调节,并且不稳定,所以只能多次实验得到清晰的谱线图像,根据谱线的位置与对应的波长来确定测谱范围。最后将靶材料换为Au,两路同时测量Au的连续谱。5)根据标定理论,处理数据,计算得出X光条纹相机的谱响应曲线。
【学位授予单位】：电子科技大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TB852.1

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本文编号：1213808