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超宽带隙Ga 2 O 3 和BN薄膜生长及阻变特性的研究

发布时间:2021-06-18 15:39
  本论文围绕超宽带隙半导体材料Ga2O3和BN的制备及阻变特性展开了研究工作。超宽带隙半导体材料因其大的禁带宽度,高的电子迁移率以及大的击穿场强,不仅成为制备高功率电力电子器件的理想材料,也成为制备深紫外波段光电器件的理想材料。此外,超宽带隙半导体材料具有的高击穿场强和高抗辐照特性,可以用于制备超薄结构低功耗的新型高性能耐辐照阻性存储器件。论文从材料的化学气相沉积生长原理、材料特性表征以及阻变存储器的制备表征等方面进行了研究工作,主要分为以下几个方面:(1)利用MOCVD方法,在具有立方晶体结构的GaAs(100)衬底上生长了具有单斜晶体结构的β-Ga2O3薄膜,研究了生长压力对β-Ga2O3薄膜择优取向、生长速率以及表面形貌等方面的影响;(2)在具有六方晶体结构的GaN以及6H-SiC衬底上生长了六方晶体结构的ε-Ga2O3薄膜,详细表征了 ε-Ga2O3薄膜的晶体结构,并研究了亚稳相ε-Ga2O3在高温退火过程中的相变效应,研究了 ε-Ga203的热稳定性;(3)基于压力调控的成核控制理论,在Al2O3衬底上实现了单一相ε-和β-Ga2O3薄膜的可控生长,研究了压力调控在Ga2O3薄... 

【文章来源】:大连理工大学辽宁省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:179 页

【学位级别】:博士

【部分图文】:

超宽带隙Ga 2 O 3 和BN薄膜生长及阻变特性的研究


图1.1?2014年诺贝尔物理学奖??Fig.?1.1?The?2014?Nobel?Prize?in?physics??

示意图,晶体结构,示意图,外延衬底


P=103.38°??其中,研究最广泛的是在标准状态下具有最稳定晶体结构的P-Ga203[28]。p-Ga203??为单斜晶体结构,对称性较低。其晶体结构如图1.2所示。p-Ga203良好的物理和化学??稳定性以及其优异的光电特性,使其在近些年广受关注。值得注意的是,单斜晶体结构??使其在异质外延生长过程中无晶格匹配的外延衬底,当前通用的外延衬底为六方或者立??方结构,导致P-Ga203在外延生长中存在较大晶格失配。幸运的是P-Ga203可以通过高??-4-??

示意图,晶体结构,示意图,日盲区


b?Q?°?90=??图1.2?(3-Ga203晶体结构示意图[37]??Fig.?1.2?Diagram?of?p-Ga2〇3?crystal?sturcture??基于其优异的光电特性,当前对P-Ga203的研宄主要集中在两个方面,其一是日盲??区探测器件;其二是高功率场效应晶体管。日盲探测方面,P-Ga203因为其特殊的禁带??宽度4.9?eV,对应的波长为250?nm正好位于太阳光谱日盲区,被认为是制备日盲区探??测器的理想材料。太阳光谱的日盲区,是由于大气层对太阳光谱的吸收产生了光谱真空??区,在200?nm到280?nm波长范围内,地表无法探测到来自太阳辐射产生的该波段内的??光辐射,因此该波段内的光探测在民用和军事领域中有着十分重要的作用。例如导弹发??射预警,火灾预警以及环境监测等[3842]。2011年,Suzuki等人[43],利用(3-Ga203单晶??作为衬底制备了基于Au/p-Ga203肖特基接触的日盲区探测器

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[3]前驱物法低温合成六方氮化硼[D]. 冯艳春.大连理工大学 2012
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本文编号:3236929

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