氢退火对LPCVD生长的ZnO薄膜光学和电学性能的影响
发布时间:2017-07-20 14:25
本文关键词:氢退火对LPCVD生长的ZnO薄膜光学和电学性能的影响
更多相关文章: 低压化学气相沉积 ZnO薄膜 光学性能 载流子浓度 霍尔迁移率
【摘要】:采用低压化学气相沉积(LPCVD)在玻璃衬底上制备了B掺杂ZnO(BZO)薄膜,研究了氢气气氛退火对BZO薄膜光学性能和电学性能的影响。结果表明:在氢气气氛下退火后,BZO薄膜的物相结构和透光率基本无变化,但BZO薄膜的导电能力却明显提高。Hall测试结果表明:在氢气下退火时载流子浓度基本保持不变,但迁移率却明显提高。实验结果可为进一步提高BZO薄膜的光学电学综合性能提供借鉴。
【作者单位】: 江西科技学院协同创新中心;江西科技学院管理学院;浙江正泰太阳能科技有限公司;
【关键词】: 低压化学气相沉积 ZnO薄膜 光学性能 载流子浓度 霍尔迁移率
【基金】:江西科技学院博士科研启动基金 “863”国家高技术发展计划(2012AA052401) 国家自然科学基金(21571095)资助项目
【分类号】:O484
【正文快照】: 1引言近年来,透明导电氧化物(TCO)作为透明电极在薄膜太阳能电池[1-3]、异质结太阳能电池[4]、染料敏化太阳能电池[5]及有机太阳能电池[6]中得到了广泛研究和应用,并为薄膜太阳能电池成本降低及市场推广发挥了重要作用。作为电极窗口材料,TCO必须具有高的导电能力,以保证光生
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前7条
1 翟冬青,李洪鑫,李彦波;LPCVD半绝缘多晶硅的性质和应用研究[J];河北大学学报(自然科学版);1984年02期
2 程开富;热壁LPCVD多晶硅膜的质量分析[J];电子工业专用设备;1998年04期
3 傅广生,李晓苇,韩理,张连水,董丽芳,吕福润,薛春银;OLD诊断SiH_4的LPCVD动力学过程[J];量子电子学;1987年01期
4 傅广生,董丽芳,李晓苇,韩理,张连水,吕福润;TEA CO_2激光诱发SiH_4等离子体发光动力学研究[J];半导体学报;1990年03期
5 王季陶;低压化学蒸汽淀积(LPCVD)的计算机模拟通式[J];自然杂志;1981年01期
6 程萍;张玉明;郭辉;张义门;廖宇龙;;LPCVD法制备的高纯半绝缘4H-SiC晶体ESR谱特性[J];物理学报;2009年06期
7 ;[J];;年期
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 胡淑芬;;LPCVD in-situ Growth of Silicon Quantum Dots in Si_3N_4[A];中国颗粒学会第七届学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会论文集[C];2010年
,本文编号:568505
本文链接:https://www.wllwen.com/guanlilunwen/gongchengguanli/568505.html