高压直流绝缘材料表面电荷积聚研究进展

发布时间：2018-04-17 04:02

  本文选题：直流 + 绝缘材料　； 参考：《电工技术学报》2017年08期

【摘要】：随着直流输电技术的发展,直流气体绝缘金属封闭开关设备(GIS)因其具有占地面积小、可靠性高、维护少等优点已得到越来越多的关注。相比交流GIS,直流GIS盆式绝缘子存在严重的表面电荷积聚问题,导致其沿面闪络特性下降,制约着直流GIS的工程应用。目前关于高压直流下绝缘材料表面电荷积聚特性及抑制措施的研究已成为国际上的热点,本文对此进行系统性的综述,包括:表面电荷测试的常用技术和电荷反演算法,表面电荷的积聚途径及相应来源,表面电荷积聚的仿真模型,表面电荷积聚的影响因素及调控措施。最后,对表面电荷积聚下一步的研究工作给出了建议。
[Abstract]:With the development of HVDC transmission technology, GISs have been paid more and more attention due to their advantages of small area, high reliability and little maintenance.Compared with AC gis, DC GIS basin insulators have serious surface charge accumulation problem, which leads to the decrease of flashover characteristics along the surface, which restricts the engineering application of DC GIS.At present, the research on the characteristics of surface charge accumulation and suppression measures of insulating materials under HVDC has become a hot topic in the world. This paper makes a systematic review of this issue, including: the common techniques of surface charge measurement and charge inversion algorithms.The path and source of surface charge accumulation, the simulation model of surface charge accumulation, the influencing factors of surface charge accumulation and the control measures are discussed.Finally, some suggestions are given for the further study of surface charge accumulation.
【作者单位】： 武汉大学电气工程学院;南方电网科学研究院有限责任公司;
【基金】：国家自然科学基金(51607128) 湖北省自然科学基金(2016CFB111)资助项目
【分类号】：TM21

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本文编号：1761958