ZnO压敏电阻热电特性的研究

发布时间：2023-03-11 09:14

　　ZnO压敏电阻的老化主要由施加电压及温度因素造成,为研究其在工作电压下的热电特性,利用建立的压敏电阻交、直流老化试验平台,开展了热电应力下压敏电阻温度特性、荷电率特性及直流老化特性的试验研究。结果表明:1)直流电压荷电率(电压与压敏电压的比值)在85%～92%区间,泄漏电流和功耗随荷电率增大有下降趋势,而交流电压下两参数随荷电率的增加而增加; 2)直流老化试验中,在97%荷电率和145℃温度下,10K250压敏电阻的泄漏电流经历了快速下降、缓慢上升、激增3个阶段。泄漏电流的剧增点(增长到初始值的900%),压敏电压(流过电阻片的直流电流为1 m A时的直流压敏电压)的变化小于1%,因此,将压敏电压值降为初始值的10%作为老化试验寿命终结判据是否合理有待进一步的研究。

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【文章目录】：
0 引言
1 Zn O压敏电阻交直流老化试验系统
2 Zn O压敏电阻交、直流老化试验
    2.1 压敏电阻特性试验方法
        2.1.1 暂态特性试验
        2.1.2 长期老化特性试验
    2.2 压敏电阻的交、直流暂态特性试验
        2.2.1 交、直流暂态试验结果
        2.2.2 交、直流暂态特性试验结果分析
    2.3 直流老化试验
        2.3.1 直流老化试验结果
        2.3.2 直流老化试验结果分析
3 结论



本文编号：3759605