代表扫描——一种低功耗可测试性设计结构

发布时间：2017-11-09 17:11

  本文关键词：代表扫描——一种低功耗可测试性设计结构

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【摘要】：传统扫描链将所有扫描单元串联,测试数据的移位路径较长,导致测试移位功耗较大.首次提出代表扫描结构,它将传统扫描链或子链中的触发器改造成环形移位寄存器,为每个环形移位寄存器遴选一个代表触发器,并将这些代表触发器串联,构成具有若干局部循环的代表扫描结构.由于代表扫描结构中仅有部分触发器参与数据移位,这大大减少了移位功耗.对于ISCAS89 benchmark电路来说,最优的代表扫描结构的移位功耗仅为传统直链扫描结构的4.68%～13.59%之间,而且电路越大,移位功耗减少的越多.对于S35932电路来说,其环形移位寄存器大小为42时,对应的移位功耗仅为直链扫描结构的4.68%.该结构仅需要在每个触发器上增加一个选择器用来选择不同的测试模式,具有较小的硬件代价.
【作者单位】： 湖北理工学院计算机学院;长沙理工大学计算机与通信工程学院;
【基金】：国家自然科学基金项目(批准号:61303042,61472123) 湖北省自然科学基金项目(批准号:2014CFC1091) 湖北省教育厅科研项目(批准号:B2014026) 湖北理工学院创新人才项目(批准号:13xjz05c)、湖北理工学院优秀青年科技创新团队项目(批准号:13xtz10)、湖北理工学院大学生创新项目(批准号:13cx25)资助
【分类号】：TN407
【正文快照】： 1引言扫描结构是近年来集成电路测试最常用的可测试性设计方法.目前存在的通用扫描结构可以归纳为3大类,第1类是直链扫描结构,第2类是随机访问扫描结构(RAS),第3类是具有循环功能的循环扫描链结构.直链结构是应用最广泛的可测试性结构.它主要包括单扫描链结构(conventional si，

本文编号：1162791