磁珠低温性能引发的中断故障

发布时间：2017-12-01 15:12

  本文关键词：磁珠低温性能引发的中断故障

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【摘要】：某产品在生产中出现低温下中断故障,引发产品多项测试失败,导致多项参数测试失败,通过对故障的分析和验证,最终确定为磁珠低温性能引发的中断故障。
【作者单位】： 中国空空导弹研究院;
【分类号】：TN40
【正文快照】： Interrupt Fault Caused by the Low Temperature Performance of Magnetic BeadYang Zongjie Liu Yucheng某产品主要通过脉冲中断来完成与其它系统之间的信息交换。它主要由计算机、译码电路、控制电路、输入电路、输出电路、接口电路、429通讯电路、字节多路转换电路、加速

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本文编号：1241521