IGBT功率模块加速老化方法综述

发布时间：2017-12-11 21:05

  本文关键词：IGBT功率模块加速老化方法综述

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【摘要】：功率变流器的可靠性评估和寿命预测已经成为非常重要的研究课题。IGBT功率模块的大量使用在诸多领域里越来越广泛,它们的失效主要由热机械疲劳引起,而在正常工作运行时,这种疲劳老化过程很漫长。因此,为全面观察和探究功率模块的疲劳老化失效过程,需要设计加速老化试验以缩短研究周期。最普遍的老化试验方法是对器件施加热应力和电应力,对器件不断热冲击实现加速老化进程的目的。文中主要归纳分析了各种加速老化方法的目的和差别,并重点总结了功率循环加速老化方法在不同试验条件、失效方式、试验持续时间、试验电路设计、监测的电气参数和热参数等方面的不同,目的在于提出加速老化方法的一般步骤和需要考虑的问题。最后根据这些问题对加速老化方法的研究进行了展望,为IGBT功率模块乃至整个变流器系统的失效机理分析、可靠性分析、寿命预测、健康状态评估和状态监测的研究奠定了基础。
【作者单位】： 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室;石河子大学机械电气工程学院;
【基金】：国家自然科学基金重点资助项目(51137006)~~
【分类号】：TN322.8
【正文快照】： 引言 随着半导体技术的发展,IGBT的应用领域也在不断拓展,逐渐向大功率以及特殊领域,如新能 源发电、机车牵引、舰艇推进系统以及航空航天动力系统等渗透。这类应用领域工况严酷且对IGBT的可靠性有严格的要求[1-7]。而应用于开关电源、家用电器等电子装置中的电力电子器件,

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本文编号：1279898