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基于向量传播的单粒子瞬态模拟方法研究

发布时间:2018-05-05 11:50

  本文选题:可靠性 + 软错误率 ; 参考:《微电子学》2017年02期


【摘要】:提出了一种基于向量传播的单粒子瞬态(SET)模拟方法。基于4值参数的模型来表征SET脉冲的形状,建立脉冲参数传播的数据库。使用查找表及经验公式来计算SET脉冲形状参数在逻辑门节点之间的传播。为了模拟SET脉冲在传播过程中的重汇聚,定义了4种重汇聚模式,并给出对应的等效脉冲计算方法。提出的基于向量传播的分析算法能够对SET脉冲的产生、传播及捕获过程进行精确分析。ISCAS'89电路的实验结果表明,该方法与Hspice仿真方法的平均误差为1.827%,计算速度提升了1 700倍。在不损失精度的前提下,该方法可对VLSI电路在通用或特定测试向量下的可靠性进行快速自动分析。
[Abstract]:A single particle transient set method based on vector propagation is proposed. Based on the 4-valued parameter model, the shape of SET pulse is represented, and the database of pulse parameter propagation is established. The propagation of SET pulse shape parameters between logic gate nodes is calculated by using lookup table and empirical formula. In order to simulate the reconvergence of SET pulses during propagation, four reconverging modes are defined and the corresponding equivalent pulse calculation methods are given. The experimental results show that the average error between this method and the Hspice simulation method is 1.827 and the computational speed is 1 700 times higher than that of the Hspice simulation method. Without loss of precision, the reliability of VLSI circuits under general or specific test vectors can be analyzed quickly and automatically.
【作者单位】: 中国科学院电子学研究所;中国科学院大学;
【基金】:国家自然科学基金资助项目(61271149) 国家科技重大专项资助项目(2013ZX03006004)
【分类号】:TN40

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本文编号:1847575

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