电子元器件加速寿命试验技术浅析

发布时间：2018-05-12 04:34

  本文选题：电子元器件 + 加速寿命试验　； 参考：《空间电子技术》2016年06期

【摘要】：介绍了电子元器件加速寿命试验的理论基础及常用的几种试验方法,并对几种加速寿命试验方法进行了比较。结合工作实践中开展的电子产品加速寿命试验方案的设计与编制工作,讨论了电子元器件加速寿命试验的几点技术问题。
[Abstract]:This paper introduces the theoretical basis and several common test methods of accelerated life test for electronic components, and compares several accelerated life test methods. Based on the design and compilation of accelerated life test scheme for electronic products in practice, several technical problems of accelerated life test for electronic components are discussed.
【作者单位】： 中国空间技术研究院西安分院;
【分类号】：TN606

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本文编号：1877119