EMMI故障定位和基于故障树的GaAs MMIC失效分析

发布时间：2018-09-07 06:34

【摘要】：首先通过故障树的方式,分析了某6位数控衰减器衰减态翻转速度异常的失效模式和失效机理。把故障树的顶事件2dB衰减态翻转速度异常分为开关管ESD损伤、驱动信号异常、衰减电阻异常、控制端电阻异常4个子事件,经过分析得出翻转速度异常最大可能是由于控制端电阻过大引发RC延迟现象,进而导致关断或开启延迟故障。然后通过微光显微镜和激光感应阻抗变化率对故障件进行故障定位确定了故障点,为分析结果提供了依据。
[Abstract]:Firstly, the failure mode and failure mechanism of a 6-bit numerical control attenuator are analyzed by fault tree. The top event of the fault tree 2dB attenuating state turnover velocity anomaly is divided into four sub-events: switch tube ESD damage, driving signal anomaly, attenuation resistance anomaly, control end resistance anomaly, It is concluded that the most abnormal turnover speed may be caused by the RC delay caused by the excessive resistance at the control end, which leads to the turn-off or turn-on delay fault. Then the fault point is determined by LLL microscope and laser induced impedance change rate, which provides the basis for the analysis results.
【作者单位】： 微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室;南京电子器件研究所;
【分类号】：TN715

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本文编号：2227483