逆导型沟槽FS IGBT的设计与实现
[Abstract]:(RC Trench FS IGBT) is a new type of power semiconductor device with low cost, small volume and high reliability. A 1 200V inverse conductivity groove FS IGBT. is designed and implemented. The special backsweep phenomenon of inverse conductance insulated gate transistor (RC IGBT) and how to eliminate the backsweep phenomenon in structural design are studied. Secondly, the switching characteristics of RC IGBT under different carrier life are studied. Simulation of reverse recovery characteristics. The results show that with the decrease of carrier lifetime, the switching time and reverse recovery characteristics are improved to some extent. The flow sheet is carried out according to the optimum design of the device. The experimental results verify the effects of different designs on the current backsweep phenomenon, as well as the variation of the on-on and reverse recovery characteristics under different minority carrier lifetimes. The performance of the device is optimized.
【作者单位】: 北京大学软件与微电子学院;电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室;
【基金】:国家自然科学基金资助项目(61404023) 国家科技重大专项资助项目(2011ZX02504-001,2011ZX02504-003) 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室开放基金资助项目(KFJJ201301)
【分类号】:TN322.8
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,本文编号:2302088
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