基于偏振串扰分析仪的LiNbO 3 集成Y波导的测试方法

发布时间：2023-08-08 18:20

　　结合分布式偏振串扰分析仪,利用琼斯矩阵对LiNbO₃集成Y波导进行理论建模分析,并且得到了实验验证。实验证明,偏振串扰分析仪能评估出Y波导的整体消光比,且能够测试出Y波导内部的一个缺陷的串扰值,弥补了强度型消光比测试仪的不足。最后用单偏振光纤验证了Y波导测试结果的合理性。分布式偏振串扰分析仪在实际应用中对筛选性能更加优异的LiNbO₃集成光学芯片有着重要意义。

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【文章目录】：
1 引言
2 测试原理
    2.1 基于偏振串扰分析仪的测试光路分析
    2.2 测试建模分析
3 实验验证
4 用单偏振光纤验证Y波导实验结论的合理性
5 结论



本文编号：3840252