基于SHC3206的芯片自动化测试平台设计与实现

发布时间：2017-07-16 08:10

  本文关键词：基于SHC3206的芯片自动化测试平台设计与实现

  更多相关文章： 芯片功能测试 自动测试 SHC3206测试板 上位机软件

【摘要】：随着集成电路产业的高速发展,作为该产业重要一环的功能测试也被寄予越来越高的要求。如何高效率、低成本地完成芯片功能测试已经成为很多集成电路设计公司必须面对的问题。由于芯片封装各异,且功能繁杂,一套具备通用性的自动化芯片功能测试平台可以获得良好的经济效益和社会效益。因实习公司项目需要,本文设计并实现了一套自动化芯片功能测试平台,该平台包含以下三部分:(1)一套具有较高通用性的芯片自动测试平台控制系统。(2)基于windows的测试平台的上位机软件。(3)一款基于SHC3206芯片的测试电路板。该平台不仅降低了公司在芯片功能测试方面的人工成本,而且大幅缩短了测试时间。围绕该芯片测试平台,本文所做的工作主要有以下几个方面:1.设计并实现了芯片自动测试平台控制系统。本文根据机械设备生产厂家提供的电机参数及机械图纸尺寸,自行设计了一套测试平台控制系统。该系统由控制电路板和控制程序两部分组成,具有系统自检、自动复位校准、容错处理以及安全碰撞检测等功能,具备较高的通用性和灵活性。通过反复联调测试结果显示,该系统能够长期安全稳定运行。2.设计并实现了基于windows的测试系统上位机软件。为了保证测试系统的通用性,本文设计并实现了一套能够和测试平台控制系统进行实时通信的上位机软件。利用测试平台控系统中预留的串口,上位机不仅能够实时获取测试数据和显示测试结果,而且可以对测试系统的基本位移参数进行修改,从而满足不同封装芯片的测试需要。3.基于公司一款SHC3206芯片,开发了功能测试板。该测试板可对芯片的各项功能指标进行自动测试验证,其步骤为:首先自动测试平台将芯片放入测试板进行测试;然后测试板在完成该芯片所有功能测试后将测试结果反馈给测试平台控制系统;最后根据测试结果合格与否,测试平台控制系统将芯片放入不同芯片放置区域。如此循环即可完成芯片的批量自动化测试。联调测试结果显示,单颗芯片的平均测试时间为2.5秒,这远远低于人工测试时间且没有人为差错。因此,该系统可以大大提高芯片的测试效率和测试质量。
【关键词】：芯片功能测试 自动测试 SHC3206测试板 上位机软件
【学位授予单位】：西安电子科技大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TN407
【目录】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-11
• 符号对照表11-12
• 缩略语对照表12-16
• 第一章 绪论16-20
• 1.1 项目研究背景和意义16-17
• 1.2 芯片自动测试平台国内外应用现状17-18
• 1.3 论文主要工作和章节安排18-20
• 第二章 芯片自动测试平台总体设计20-24
• 2.1 芯片自动测试原理20-21
• 2.2 测试平台机械设备介绍21-22
• 2.3 芯片自动测试平台架构设计22
• 2.4 芯片自动化测试流程22-23
• 2.5 小结23-24
• 第三章 芯片自动测试平台控制系统设计24-46
• 3.1 控制系统硬件总体方案设计24-26
• 3.2 控制系统硬件电路模块设计26-40
• 3.2.1 电源管理分配网络电路设计26-29
• 3.2.2 MCU最小系统设计29-32
• 3.2.3 传感器模块接口电路设计32-34
• 3.2.4 电机驱动电路设计34-38
• 3.2.5 电磁阀驱动电路设计38-39
• 3.2.6 通信接口电路设计等39-40
• 3.3 控制程序设计40-42
• 3.3.1 控制程序流程设计40-41
• 3.3.2 电机加减速控制程序设计41-42
• 3.4 系统错误检测与优化方法42-43
• 3.5 软硬件联调测试结果分析43-44
• 3.6 小结44-46
• 第四章 芯片自动测试平台上位机软件开发46-56
• 4.1 上位机软件功能需求46-47
• 4.2 上位机软件流程及设计实现47-50
• 4.3 上位机软件的模块介绍50-54
• 4.3.1 通信设置模块50-51
• 4.3.2 参数设置模块51-52
• 4.3.3 速度设置模块52-53
• 4.3.4 手动调试模块53
• 4.3.5 运行信息控制模块53-54
• 4.4 小结54-56
• 第五章 SHC3206测试板设计56-74
• 5.1 SHC3206芯片介绍56-57
• 5.2 SHC3206芯片测试方案57-58
• 5.3 SHC3206自动测试板硬件电路设计58-65
• 5.3.1 测试板硬件方案设计58-59
• 5.3.2 测试板电源管理设计方案59-61
• 5.3.3 测试板高速差分线路设计及信号完整性分析61-62
• 5.3.4 测试板控制电路设计62-63
• 5.3.5 I2C总线设计及注意事项63-65
• 5.4 测试板MCU控制程序开发65-66
• 5.5 测试板FPGA Verilog程序设计66-71
• 5.5.1 FPGA信号编码算法67-70
• 5.5.2 FPGA信号解码算法70-71
• 5.6 小结71-74
• 第六章 总结和展望74-76
• 6.1 总结74
• 6.2 展望74-76
• 参考文献76-78
• 致谢78-80
• 作者简介80-81

【参考文献】

中国期刊全文数据库 前10条

1 徐亚茹;陆静平;;步进电动机快速平稳起动控制算法研究[J];微特电机;2014年08期

2 王洪军;;小议视频信号接口[J];才智;2014年15期

3 郭登科;刘卫东;;HDMI转TTL信号转换电路系统设计[J];自动化技术与应用;2014年02期

4 宁凡;郭志宏;郑骅;;基于MSP413单片机的热量表检测系统的研制与开发[J];软件工程师;2014年01期

5 崔洁;杨凯;肖雅静;颜向乙;;步进电机加减速曲线的算法研究[J];电子工业专用设备;2013年08期

6 王娟;杨明武;;传输线上反射与串扰的仿真分析[J];合肥工业大学学报(自然科学版);2012年02期

7 徐志跃;;隔离放大器及其应用[J];实验技术与管理;2011年06期

8 何伟;陈永强;;C#的文件处理研究与实例分析[J];电脑知识与技术;2009年21期

9 俞建峰;陈翔;杨雪瑛;;我国集成电路测试技术现状及发展策略[J];中国测试;2009年03期

10 姜德美;谢守勇;甘露萍;;步进电机启动控制算法设计[J];西南大学学报(自然科学版);2007年05期

，

本文编号：547731