基于卷积神经网络的宇航电源光学检测技术
发布时间:2021-09-01 18:00
传统自动光学检测(AOI)方法难以适应宇航电源生产线多品种、小批量的特点,具有识别率低、操作复杂等问题。利用卷积神经网络(CNN)学习速度快、特征提取效果好的优势,提出了一种能够对宇航电源产品质量进行可靠检验的光学检测技术。通过对历史生产数据的精细化筛选构建了训练样本库,并设计了宇航电源产品光学检验专用卷积神经网络;将Canny算子边缘检测与CNN图像识别相结合,实现了印制板装配图信息的自动读取。与传统AOI检测方法相比,该方法缺陷识别率高达99%,且检验过程简单,提高了宇航电源产品光学检验工作效率,已应用于宇航电源生产线。
【文章来源】:测控技术. 2020,39(03)
【文章页数】:5 页
【部分图文】:
输出检验结果
基于卷积神经网络的宇航电源产品光学检测算法架构如图1所示。为避免复杂编程操作,检测算法以图像作为输入自动完成测试准备工作;检测过程可分为图像预处理与损伤类型诊断两个环节,其中预处理环节自动读取装配图信息,可代替传统设备的坐标输入及测试编程;损伤类型诊断环节使用卷积神经网络对元件子图逐一筛查,判定相应元件是否满足设计、工艺要求;最后,根据用户需要以图像的形式输出光学检测结果。2 基于Canny算子的检测图像预处理
针对宇航电源产品光学检验问题,采用图2所示的卷积神经网络结构进行元件图像与字符辨识。该网络由5层卷积层、池化层完成元件图像的特征提取,由3层全连接层完成特征辨识与归类,最后利用Softmax函数进行输出处理:3.2 训练数据集构建
【参考文献】:
期刊论文
[1]基于改进BP神经网络的夜间车牌识别算法研究[J]. 张培玲,毕东生,资丽. 测控技术. 2018(08)
[2]基于卷积神经网络的监控场景下车辆颜色识别[J]. 张强,李嘉锋,卓力. 测控技术. 2017(10)
[3]AOI技术在PCB缺陷检测中的设计与实现[J]. 郭民,王蕊. 测控技术. 2016(12)
[4]卫星载荷二次电源用MOSFET的抗辐射设计及验证[J]. 任飞,纪志坡,张国帅,万成安. 航天器环境工程. 2016(05)
[5]AOI技术在LTCC制程中的应用研究[J]. 吴申立,王正义. 电子元件与材料. 2014(08)
[6]基于优化K-D树的大面积高密度PCB快速AOI[J]. 蒲亮,叶玉堂,宋昀岑,刘莉,陈东明,潘明. 仪器仪表学报. 2011(04)
[7]基于模式匹配及其参数自适应的PCB焊点检测[J]. 吴福培,邝泳聪,张宪民,欧阳高飞. 光学精密工程. 2009(10)
[8]AOI在PCB检测过程中的有效应用方案[J]. 吴迎新. 印制电路信息. 2009(S1)
[9]论AOI检测设备的选型[J]. 吴红. 电子工艺技术. 2008(05)
[10]SMT产品质量AOI快速检测方案[J]. 罗兵,章云. 电子质量. 2007(02)
博士论文
[1]PCB自动光学检测系统基础算法研究[D]. 宋昀岑.电子科技大学 2014
本文编号:3377432
【文章来源】:测控技术. 2020,39(03)
【文章页数】:5 页
【部分图文】:
输出检验结果
基于卷积神经网络的宇航电源产品光学检测算法架构如图1所示。为避免复杂编程操作,检测算法以图像作为输入自动完成测试准备工作;检测过程可分为图像预处理与损伤类型诊断两个环节,其中预处理环节自动读取装配图信息,可代替传统设备的坐标输入及测试编程;损伤类型诊断环节使用卷积神经网络对元件子图逐一筛查,判定相应元件是否满足设计、工艺要求;最后,根据用户需要以图像的形式输出光学检测结果。2 基于Canny算子的检测图像预处理
针对宇航电源产品光学检验问题,采用图2所示的卷积神经网络结构进行元件图像与字符辨识。该网络由5层卷积层、池化层完成元件图像的特征提取,由3层全连接层完成特征辨识与归类,最后利用Softmax函数进行输出处理:3.2 训练数据集构建
【参考文献】:
期刊论文
[1]基于改进BP神经网络的夜间车牌识别算法研究[J]. 张培玲,毕东生,资丽. 测控技术. 2018(08)
[2]基于卷积神经网络的监控场景下车辆颜色识别[J]. 张强,李嘉锋,卓力. 测控技术. 2017(10)
[3]AOI技术在PCB缺陷检测中的设计与实现[J]. 郭民,王蕊. 测控技术. 2016(12)
[4]卫星载荷二次电源用MOSFET的抗辐射设计及验证[J]. 任飞,纪志坡,张国帅,万成安. 航天器环境工程. 2016(05)
[5]AOI技术在LTCC制程中的应用研究[J]. 吴申立,王正义. 电子元件与材料. 2014(08)
[6]基于优化K-D树的大面积高密度PCB快速AOI[J]. 蒲亮,叶玉堂,宋昀岑,刘莉,陈东明,潘明. 仪器仪表学报. 2011(04)
[7]基于模式匹配及其参数自适应的PCB焊点检测[J]. 吴福培,邝泳聪,张宪民,欧阳高飞. 光学精密工程. 2009(10)
[8]AOI在PCB检测过程中的有效应用方案[J]. 吴迎新. 印制电路信息. 2009(S1)
[9]论AOI检测设备的选型[J]. 吴红. 电子工艺技术. 2008(05)
[10]SMT产品质量AOI快速检测方案[J]. 罗兵,章云. 电子质量. 2007(02)
博士论文
[1]PCB自动光学检测系统基础算法研究[D]. 宋昀岑.电子科技大学 2014
本文编号:3377432
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/hangkongsky/3377432.html