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二氧化锡半导体陶瓷的掺杂改性研究

发布时间:2017-09-27 01:27

  本文关键词:二氧化锡半导体陶瓷的掺杂改性研究


  更多相关文章: 二氧化锡 氧化物 掺杂 电阻率 致密度


【摘要】:二氧化锡(SnO_2)是一种金红石结构的n型半导体材料,其晶体结构比较稳定,耐腐蚀性良好,具有较高的熔点,并且在掺杂后有较低的电阻率和良好烧结性能等优点,在光学、电极、气敏材料方面有着广泛的应用。本论文采用陶瓷制备工艺,借助智能电阻仪、体积密度测试仪、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)等方法分别研究了ZnO、Ce O_2、MnO_2、Nb_2O_5、CuO、Li_2CO_3掺杂对SnO_2半导体陶瓷的导电性和体积密度的影响。在SnO_2中加入质量分数为5.8wt.%的Sb2O_3和0.5wt.%的La2O_3以及变量的Zn O和CeO_2,在不同烧结温度下进行烧结,研究发现,在所研究的掺杂量范围内,ZnO的掺杂不改变SnO_2陶瓷的金红石结构,没有杂相生成;当ZnO的添加量为0.7wt.%,烧结温度为1450℃时,陶瓷样品的电阻率达到最小值10.203mΩ·cm,体积密度为5.708g/cm3;对于掺杂CeO_2的陶瓷样品,在所研究的掺杂量范围内,CeO_2的掺杂不改变SnO_2陶瓷的金红石结构,没有杂相生成;当CeO_2的添加量为0.7wt.%时,烧结温度为1430℃时,陶瓷样品的电阻率达到最小值966.68mΩ·cm,体积密度为5.72g/cm3,说明ZnO和CeO_2可以改变SnO_2陶瓷的体积密度和导电性。在SnO_2中加入质量分数为5.8wt.%的Sb2O_3和0.5wt.%的La2O_3以及变量的Nb_2O_5和MnO_2,在不同烧结温度下进行烧结,研究发现,在所研究的掺杂量范围内,Nb_2O_5的掺杂不改变SnO_2陶瓷的金红石结构,没有杂相生成;Nb_2O_5的掺杂对SnO_2陶瓷的体积密度的影响不大,烧结温度为1430℃时,陶瓷样品的电阻率达到最小值36.23Ω·cm,体积密度为5.43g/cm3。对于掺杂MnO_2的陶瓷样品,在所研究的掺杂量范围内,MnO_2的掺杂不改变SnO_2陶瓷的金红石结构,没有杂相生成;烧结温度为1450℃时,MnO_2掺杂量在0.7wt.%时,其晶粒最为饱满,其陶瓷样品密度为5.74 g/cm3,其电阻率为10.89Ω·cm,而在MnO_2掺杂量为0.9wt.%时,其空隙率变大,体积密度降低到5.70 g/cm3。在SnO_2中加入质量分数为5.8wt.%Sb2O_3和0.5wt%的La2O_3以及变量的Li_2CO_3和CuO;在不同烧结温度下进行烧结,研究发现,在所研究的掺杂量范围内,Li_2CO_3的掺杂不改变SnO_2陶瓷的金红石结构,没有杂相生成;Li_2CO_3的掺杂可以促进陶瓷晶粒的长大,其体积密度随着Li_2CO_3的掺杂量的增加而增大,其在最佳烧结温度为1350℃时,Li_2CO_3的掺杂量为0.7wt.%时,其电阻率最小值为5.14mΩ·cm,此时体积密度为5.60 g/cm3,说明Li_2CO_3可以改善SnO_2陶瓷的体积密度和导电性能。CuO掺杂改性SnO_2陶瓷的实验中,研究发现,在所研究的掺杂量范围内,CuO的掺杂不改变SnO_2陶瓷的金红石结构,没有杂相生成;在少量的掺杂后,其晶粒得到了生长,致密度提高,并且随着CuO掺杂量的一直增加,密度也出现继续上升的现象,最高达到5.723 g/cm3,但是通过电阻率的变化规律发现,在烧结温度为1400℃~1470℃时,其电阻率先降低后增加,在1430℃烧结温度烧结时,其电阻率先降低后增加,CuO掺杂量为0.7wt.%时,其电阻率为4.85Ω·cm,当CuO掺杂量超过0.7wt.%时,此时的电阻率有所升高,CuO掺杂量为0.9 wt.%时,其电阻率为8.25Ω·cm。
【关键词】:二氧化锡 氧化物 掺杂 电阻率 致密度
【学位授予单位】:江苏大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2016
【分类号】:TQ174.1
【目录】:
  • 摘要5-7
  • Abstract7-13
  • 第一章 绪论13-23
  • 1.1 引言13-14
  • 1.2 二氧化锡的基本用途14-17
  • 1.2.1 二氧化锡的研究方向15-17
  • 1.3 制备SnO_2半导体陶瓷的方法17-19
  • 1.3.1 固相法17
  • 1.3.2 化学沉淀法17-18
  • 1.3.3 溶胶-凝胶法18
  • 1.3.4 水热法18
  • 1.3.5 电弧气化合成法18-19
  • 1.3.6 低温等离子体化学法19
  • 1.3.7 溅射法19
  • 1.4 二氧化锡陶瓷的研究进展19-22
  • 1.4.1 二氧化锡陶瓷的前期发展19-20
  • 1.4.2 二氧化锡陶瓷的现状20
  • 1.4.3 二氧化锡陶瓷的研究进展20-22
  • 1.5 本论文研究内容22-23
  • 第二章 实验部分23-28
  • 2.1 实验的原料及所用的仪器23-24
  • 2.1.1 实验所用的原料23
  • 2.1.2 试验用到的仪器及设备23-24
  • 2.2 二氧化锡半导体陶瓷的制备工艺24-26
  • 2.3 样品性能的表征26-28
  • 第三章 ZnO和CeO_2掺杂SnO_2陶瓷的性能研究28-40
  • 3.1 引言28-29
  • 3.1.1 实验方案的选择28
  • 3.1.2 La2O_3单独掺杂SnO_2的作用机理28-29
  • 3.1.3 Sb2O_3单独掺杂SnO_2的作用机理29
  • 3.2 ZnO的掺杂对SnO_2陶瓷性能的影响29-34
  • 3.2.1 ZnO掺杂SnO_2陶瓷的制备29
  • 3.2.2 不同ZnO掺杂量对SnO_2陶瓷体积密度的影响29-30
  • 3.2.3 ZnO对SnO_2陶瓷物相组成的影响30-31
  • 3.2.4 ZnO不同掺杂量对SnO_2陶瓷的显微结构的影响31-33
  • 3.2.5 ZnO掺杂对SnO_2陶瓷电阻率的影响33-34
  • 3.3 不同CeO_2掺杂量对SnO_2陶瓷性能的影响34-38
  • 3.3.1 CeO_2掺杂SnO_2陶瓷的制备34-35
  • 3.3.2 不同CeO_2掺杂量对SnO_2陶瓷烧体积密度的影响35
  • 3.3.3 CeO_2掺杂对SnO_2陶瓷物相组成的影响35-36
  • 3.3.4 CeO_2不同掺杂量对SnO_2陶瓷的显微结构的影响36-37
  • 3.3.5 CeO_2掺杂对SnO_2陶瓷电阻率的影响37-38
  • 3.4 本章小结38-40
  • 第四章 Nb_2O_5和MnO_2掺杂SnO_2陶瓷的性能研究40-51
  • 4.1 引言40
  • 4.2 不同Nb_2O_5掺杂量对SnO_2陶瓷性能的影响40-45
  • 4.2.1 Nb_2O_5掺杂SnO_2陶瓷的制备40
  • 4.2.2 不同Nb_2O_5掺杂量对SnO_2陶瓷体积密度的影响40-41
  • 4.2.3 Nb_2O_5对SnO_2陶瓷物相组成的影响41-42
  • 4.2.4 Nb_2O_5不同掺杂量对SnO_2陶瓷的显微结构的影响42-44
  • 4.2.5 Nb_2O_5掺杂对SnO_2陶瓷电阻率的影响44-45
  • 4.3 不同MnO_2掺杂量对SnO_2陶瓷性能的影响45-49
  • 4.3.1 MnO_2掺杂SnO_2陶瓷的制备45
  • 4.3.2 不同MnO_2掺杂量对SnO_2陶瓷体积密度的影响45-46
  • 4.3.3 MnO_2掺杂对SnO_2陶瓷物相组成的影响46-47
  • 4.3.4 MnO_2不同掺杂量对SnO_2陶瓷的显微结构的影响47-49
  • 4.3.5 MnO_2掺杂对SnO_2陶瓷电阻率的影响49
  • 4.4 本章小结49-51
  • 第五章 Li_2CO_3和CuO掺杂二氧化锡陶瓷的性能研究51-60
  • 5.1 引言51
  • 5.2 不同Li_2CO_3掺杂量对SnO_2陶瓷性能的影响51-55
  • 5.2.1 Li_2CO_3掺杂SnO_2陶瓷的制备51
  • 5.2.2 不同Li_2CO_3掺杂量对SnO_2陶瓷体积密度的影响51-52
  • 5.2.3 Li_2CO_3对SnO_2陶瓷物相组成的影响52-53
  • 5.2.4 Li_2CO_3不同掺杂量对SnO_2陶瓷的显微结构的影响53-54
  • 5.2.5 Li_2CO_3掺杂对SnO_2陶瓷电阻率的影响54-55
  • 5.3 不同CuO掺杂量对SnO_2陶瓷性能的影响55-59
  • 5.3.1 CuO掺杂SnO_2陶瓷的制备55
  • 5.3.2 不同CuO掺杂量对SnO_2陶瓷体积密度的影响55-56
  • 5.3.3 CuO掺杂对SnO_2陶瓷物相组成的影响56-57
  • 5.3.4 CuO不同掺杂量对SnO_2陶瓷的显微结构的影响57-58
  • 5.3.5 CuO掺杂对SnO_2陶瓷电阻率的影响58-59
  • 5.4 本章小结59-60
  • 第六章 结论60-61
  • 参考文献61-67
  • 致谢67-68
  • 攻读硕士期间发表论文情况68

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