新型2πα、2πβ粒子发射率标准装置的研制

发布时间：2020-12-06 01:30

　　放射性污染通过α、β表面污染仪来检测污染是否发生或已有效去除。大面积α、β标准平面源常用来检定或校准这些仪器,而带有无窗式正比计数器的2πα、2πβ粒子发射率标准装置常用来校准这些大面积α、β平面源。实验室常用的2πα、2πβ粒子发射率测量装置采用体积庞大的NIM插件系统,不易携带至现场进行发射率测量。本论文采用模块化的设计方法,结合高集成度的CPLD器件,研制了一套新型2πα、2πβ粒子发射率标准装置。仪器体积小,易携带,可满足发射率现场测量的要求。系统设计可分为硬件电路设计、嵌入式程序设计和上位机软件设计三大部分。其中硬件电路设计包括了探测器的选型、前置放大器的设计、系统电源设计、信号调理电路设计、信号甄别电路设计、信号提取电路设计以及CPLD、MCU硬件电路设计和串口通讯电路设计,实现了从探测器输出电荷脉冲信号到电压脉冲信号峰值的保持、采集、量化的过程,然后由MCU将脉冲幅值信息通过串口发送至上位机;嵌入式软件设计主要包括了对CPLD模块、MCU模块、串口通信协议的设计;上位机软件设计包括能谱测量系统的开发和率表测量系统的建立,实现了数据的采集与处理、文件的存储与打开等功能。本论... 

【文章来源】：中国地质大学(北京)北京市 211工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：69 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

探测器实物图

电源电路拓扑设计图

原始电压脉冲信号


本文编号：2900464