多时钟域并行测试控制器的设计

发布时间：2017-11-22 09:07

  本文关键词：多时钟域并行测试控制器的设计

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【摘要】：采用了IEEE1149中TAP控制器的概念与IEEE1500 wrapper的概念相结合,设计出一款基于IEEE1500测试标准同时兼容IEEE1149测试标准的测试控制器,并设计了满足不同时钟域同时并行配置通用寄存器的功能,可以节省多个时钟域串行配置寄存器的时间,提高了测试效率。结果中的verdi仿真图表明文章所设计的测试结构达到了预期。
【作者单位】： 北京大学软件与微电子学院;
【分类号】：TP332
【正文快照】： 0引言随着集成电路产业的发展,设计、制造、测试已成为电路中十分关键的技术。测试成本伴随着集成电路规模的增大,已经占到整个生产制造成本的三成以上,并且还有向上增长的趋势[1]。如图1[2]显示了近几年测试数据量的增加。从上图可以看出,测试数据量正在逐年增加,对测试的要

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1 谈恩民;马江波;秦昌明;;SoC的存储器Wrapper设计及故障测试[J];微电子学与计算机;2011年06期

2 ;[J];;年期

，

本文编号：1214170