TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

发布时间：2017-11-27 10:04

  本文关键词：TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

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【摘要】：本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。
【作者单位】： 集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所;
【分类号】：TP332
【正文快照】： 0引言TMS320F28XX系列DSP集微控制器和高性能DSP的特点于一身,具有强大的控制和信号处理能力,能够实现复杂的控制算法,性能尤为以C28XX系列高精度数字信号处理器为最好。与并行接口相比,串行接口的最大特点是减少了器件引脚数目,降低了接口设计复杂性。目前所有的数字信号处理

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本文编号：1231453