嵌入式系统在SPI FLASH存储器测试中的应用
本文关键词：嵌入式系统在SPI FLASH存储器测试中的应用 出处：《北方工业大学》2012年硕士论文 论文类型：学位论文
【摘要】：本课题首先对半导体器件的测试概念进行了介绍,从半导体测试系统的种类及其自动测试系统设备和SPI FLASH存储器测试方法三个方面入手分别对存储器测试系统、模拟器件测试系统、混合信号测试系统、数字信号测试系统、测试设备内部结构、测试通道、存储器结构及器件的DC测试、AC测试及功能测试等方面进行了详细研究和讨论。 在国外测试技术的垄断下,半导体测试成本几乎占据了整个芯片制造成本的一半,为了满足企业对成本控制的需要,研究和设计出一种成本低廉,测试性能可靠的软硬件测试平台显得尤为重要。根据对国内外现有的半导体测试机台已有技术及嵌入式系统软硬件技术的研究,进行了基于模块化PMU芯片AD5522及快速ADC芯片AD7685构成的DC参数测试模块的电路设计。并基于ARM技术及嵌入式实时系统设计实现了测试控制板及简易分选器的控制硬软件,最后根据FLASH的失效模式分析总结归纳出FLASH的失效模型,根据失效模型建立和讨论了FLASH的功能测试算法。
[Abstract]:Firstly, the concept of semiconductor device testing is introduced. From three aspects of semiconductor test system, automatic test system equipment and SPI FLASH memory test method, the memory test system and analog device test system are introduced respectively. The hybrid signal testing system, the digital signal testing system, the internal structure of the test equipment, the test channel, the memory structure and the DC test AC test and the function test of the device are studied and discussed in detail. Under the monopoly of foreign testing technology, semiconductor testing cost accounts for almost half of the entire chip manufacturing costs. In order to meet the needs of enterprises to control the cost, research and design a low cost. The hardware and software testing platform with reliable testing performance is particularly important. According to the existing technology of semiconductor testing machine at home and abroad and embedded system hardware and software technology research. The circuit design of DC parameter testing module based on modularized PMU chip AD5522 and fast ADC chip AD7685 is carried out, and based on ARM technology and embedded real time system, the design and implementation of DC parameter testing module are carried out. The control hardware and software of the test control board and the simple separator are presented. Finally, according to the failure mode analysis of FLASH, the failure model of FLASH is summarized, and the function testing algorithm of FLASH is established and discussed according to the failure model.
【学位授予单位】：北方工业大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2012
【分类号】：TP368.1;TP333
【参考文献】
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，本文编号：1426451
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