希捷瓦记录磁盘评测
发布时间:2018-01-15 09:30
本文关键词:希捷瓦记录磁盘评测 出处:《高技术通讯》2017年05期 论文类型:期刊论文
更多相关文章: 瓦记录(SMR) 瓦记录磁盘 写覆盖 原地更新
【摘要】:分析了可提升磁盘存储密度的瓦记录(SMR)技术的优势及局限性,指出SMR采用部分叠加相邻磁道的方式增大磁盘的面密度,但是这也带来了写覆盖(Write Overlay)问题,即更新某一磁道上的数据时会覆盖相邻磁道上的有效数据,导致瓦记录磁盘(SWD)无法支持原地更新,使其非顺序写性能受到影响。为了促进该技术的应用,通过Fio和Filebench测试工具,对SMR技术的代表性产品——希捷瓦记录磁盘(SSWD)做了比较全面的测试,并对多种应用场景下SSWD的性能做了详细的测试和分析,以便为SSWD在数据中心的应用提供重要的参考。
[Abstract]:This paper analyzes the advantages and limitations of the tile recording technique which can enhance the storage density of the disk, and points out that SMR increases the surface density of the disk by partial superposition of adjacent tracks. But this also raises the problem of write overlay, which overrides valid data on adjacent tracks when updating data on a track. In order to promote the application of this technology, Fio and Filebench testing tools are used to promote the application of this technology, which results in the inability to support in situ updates. The representative product of SMR technology, Sejeva recording disk SMR, is tested comprehensively, and the performance of SSWD in various application scenarios is tested and analyzed in detail. In order to provide an important reference for the application of SSWD in the data center.
【作者单位】: 中国科学院计算技术研究所;中国科学院大学;首都师范大学管理学院;
【基金】:中国科学院战略性先导科技专项(XDA06010401);中国科学院重点部署项目(KGZD-EW-103-5(7)) 北京市教育委员会科技计划(km201510028019)资助项目
【分类号】:TP333.3
【正文快照】: 0引言磁盘的存储容量虽然过去以每年30%~50%的速度增长,但磁盘单碟片的面密度将很快到达1Tb/in2的上限,主要限制因素是超顺磁效应(su-per-paramagnetic effect)[1]。为了保证磁盘容量的增长速度,业内提出了多种新的存储技术,如晶格介质(bit patterned media)[2]、热辅助磁记录
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2 颜嘉南 DigiTimes;希捷:市场份额不受影响[N];电子资讯时报;2007年
3 记者 王晓s,
本文编号:1427735
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