微处理器容软错误设计量化评估指标及评估方法

发布时间：2018-01-30 19:48

  本文关键词： 容软错误 量化评估 评估方法 微处理器 可靠性　出处：《国防科技大学学报》2017年03期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：针对高可靠微处理器软容错设计,提出了一种新的可靠性度量标准,增强的平均无失效工作量,以解决现有度量标准没有综合考虑性能、面积、功耗开销带来的可靠性降低的缺点;提出了一种评估方法对增强的平均无失效工作量以及两种控制流检测技术进行定量评估。评估结果表明,软硬件结合的控制流检测技术较好地折中了可靠性、性能、面积和功耗。量化评估指标全面考虑了多种开销对微处理器可靠性的影响,采用相应的评估方法可以更加准确地对微处理器可靠性加固手段进行定量评估,以指导设计探索和设计优化。
[Abstract]:In order to solve the problem of high reliability microprocessor soft fault-tolerant design, a new reliability metric is proposed, which increases the average no-failure workload to solve the problem that the existing metrics do not comprehensively consider the performance and area. The disadvantages of low reliability caused by power consumption overhead; An evaluation method is proposed to quantitatively evaluate the enhanced average no-failure workload and two control flow detection techniques. The evaluation results show that the software and hardware combined with the control flow detection technology have achieved a good compromise of reliability. Performance, area and power consumption. The quantitative evaluation takes into account the impact of multiple overhead on microprocessor reliability. The quantitative evaluation of microprocessor reliability reinforcement means can be carried out more accurately by using the corresponding evaluation method to guide the design exploration and design optimization.
【作者单位】： 国防科技大学计算机学院;
【基金】：国家自然科学基金资助项目(61202123,61202122,61402497)
【分类号】：TP332
【正文快照】： 应用于复杂电磁环境的集成电路受到高能粒子轰击,会发生瞬时充放电,使得逻辑状态发生翻转,这种由高能粒子轰击所引发的错误被称为“软错误”。高可靠微处理器一般采用多种容软错误设计技术。这些容软错误设计在提高微处理器可靠性的同时,不可避免地带来了性能、面积、功耗的开

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本文编号：1477094