嵌入式存储器修复技术研究

发布时间：2018-02-15 11:52

  本文关键词： 内自建测试 内自建软修复 内自建硬修复 e-fuse box　出处：《微电子学与计算机》2015年05期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：为了克服嵌入式存储器故障对整个SOC系统的影响,采用基于存储冗余单元的嵌入式存储器软修复技术.针对软修复技术修复符号信息易丢失的缺点,使用e-fuse box保存修复信息的硬修复技术.通过比较separated fuse-box与centralized fuse-box电路结构的优缺点,提出了含有reg_bank模块的centralized fuse-box电路结构,从而节省了芯片的面积,提高了解压缩修复的速度.实验证明,该fuse-box结构所占芯片面积相对separated fuse-box结构所占的芯片面积节省47.88%.而该fuse-box结构相对传统centralized fuse-box结构,其修复信息的解压缩修复时间减少为centralized fuse-box结构解压缩修复时间的26.91%.研究得出的结论已经在实际产品中获得验证,可广泛应用于SOC设计.
[Abstract]:In order to overcome the influence of the embedded memory fault on the whole SOC system , the embedded memory soft - repair technology based on the storage redundancy unit is adopted . The structure of the fuse - box circuit which contains the reg _ bank module is saved by comparing the advantages and disadvantages of the separated fuse - box and the fuse - box circuit structure . The experiment proves that the fuse - box structure occupies 47.88 % of the chip area of the fuse - box structure . The experimental results show that the fuse - box structure has a relative separated fuse - box structure , and the decompression and repair time of the fuse - box structure is reduced to 26.91 % of the decompression repair time of the fuse - box structure . The conclusion reached that the fuse - box structure has been verified in the actual product , and can be widely applied to SOC design .

【作者单位】： 西安交通大学电信学院;
【基金】：国家自然科学基金(91123918)
【分类号】：TP333

【参考文献】

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本文编号：1513199