DSP辐射效应分析及测试方法研究

发布时间：2018-02-27 11:43

  本文关键词： DSP 总剂量效应 单粒子效应 辐射测试方法 最劣偏置条件　出处：《西安电子科技大学》2013年硕士论文　论文类型：学位论文

【摘要】：DSP在航天器中会受到空间辐射环境的影响，产生各种辐射效应。对DSP的抗辐射性能的评估与测试是提高器件可靠性的重要环节，因此对DSP的空间辐射敏感性的分析和辐射测试方法的研究具有重要意义。 以DSP器件TMS320C6701为研究对象，，结合该DSP的电路结构与功能特点，首先对DSP不同功能单元的单粒子效应敏感性进行了分析；针对DSP的单粒子效应的特点及表现，分析并总结了基于功能程序和基于DFT电路两种单粒子检测方法。分析了CMOS器件的总剂量效应机理，通过理论研究与仿真分析得出总剂量效应主要影响电路的静态漏电流和延迟时间；分析得出DSP的最劣偏置条件为静态偏置，并分别研究了DSP的I/O和内核电路的偏置方式。最后设计了DSP总剂量实验方案和偏置系统电路。
[Abstract]:DSP in spacecraft will be affected by space radiation environment, which will produce various radiation effects. The evaluation and test of DSP's anti-radiation performance is an important step to improve the reliability of the device. Therefore, it is of great significance to analyze the spatial radiation sensitivity of DSP and to study the radiation measurement methods. Taking the TMS320C6701 of DSP device as the research object, combining the circuit structure and function characteristics of the DSP, the sensitivity of the single particle effect of different functional units of DSP is analyzed, and the characteristics and performance of the single particle effect of DSP are analyzed. Two methods of single particle detection based on function program and DFT circuit are analyzed and summarized. The mechanism of total dose effect of CMOS devices is analyzed. Through theoretical research and simulation analysis, it is concluded that the total dose effect mainly affects the static leakage current and delay time of the circuit, and the worst bias condition of DSP is static bias. The I / O and the bias mode of the core circuit of DSP are studied respectively. Finally, the total dose experiment scheme of DSP and the bias system circuit are designed.
【学位授予单位】：西安电子科技大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2013
【分类号】：TN432;TP332

【参考文献】

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本文编号：1542533