TM-CAM:一种高效的容软错误相联存储器

发布时间：2018-03-22 06:25

  本文选题：相联存储器　切入点：软错误　出处：《计算机工程与科学》2014年04期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：相联存储器是集成电路中对软错误最敏感的部件之一,但是其结构特点决定了不能使用错误保护码等传统容错方法进行保护。提出了一种容软错误的相联存储器结构TM-CAM,通过采用三值匹配线机制和仔细设计的三值灵敏放大器,能够检测相联存储器中的任意一位错误,其结构简单高效。基于该结构,还提出了TM-CAM的访问算法。实验表明,TM-CAM能够以很小的开销有效地缓解相联存储器中的软错误问题。
[Abstract]:Associative memory is one of the most sensitive components of integrated circuits to soft errors. However, due to its structural characteristics, traditional fault-tolerant methods such as error protection codes can not be used. A soft-error-tolerant associated memory structure, TM-CAM, is proposed, which adopts a ternary matching line mechanism and a carefully designed ternary sensitive amplifier. It can detect any bit error in associative memory, and its structure is simple and efficient. Based on this structure, an access algorithm of TM-CAM is proposed. Experiments show that TM-CAM can effectively alleviate the soft error problem in associative memory with very small cost.
【作者单位】： 国防科学技术大学计算机学院;
【基金】：国家自然科学基金资助项目(60970036) 教育部博士点基金资助项目(20124307110016) 国家863计划资助项目(2012AA01A301)
【分类号】：TP333

【参考文献】

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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