基于时空冗余的容软错误锁存器设计

发布时间：2018-04-21 06:11

  本文选题：锁存器 + 软错误　； 参考：《电子测量与仪器学报》2015年09期

【摘要】：随着集成电路工艺尺寸的不断降低,电路对空间辐射引起的单粒子效应越来越敏感。为了提高电路的可靠性,基于时间和空间冗余技术提出了一种高性能的容软错误锁存器DSH-CG。该锁存器包括两个内部冗余模块和一个由C单元与保持器组成的输出级,不但可以过滤上游组合逻辑传播过来的SET脉冲,而且对SEU完全免疫。并且该锁存器适用于门控时钟电路或低频电路。SPICE仿真结果表明,与同类锁存器相比,该锁存器平均延迟增加32.4%,可过滤的SET脉冲宽度平均增加73.5%,并且功耗平均降低44.5%,功耗延迟积(PDP)平均降低31.5%,面积平均增加28.6%。
[Abstract]:With the decreasing of IC process size, the circuit is more and more sensitive to the single particle effect caused by space radiation. In order to improve the reliability of the circuit, a high performance soft-error-tolerant latch DSH-CG is proposed based on temporal and spatial redundancy. The latch consists of two internal redundant modules and an output stage composed of C unit and holder. The latch can not only filter the SET pulse propagated by upstream combinational logic, but also be immune to SEU completely. The simulation results show that the latch is suitable for the gated clock circuit or the low-frequency circuit. The simulation results show that compared with the similar latch, The average delay of the latch increases by 32.4 and the filtered SET pulse width increases by 73.5, and the power consumption decreases by 44.5, the power delay product decreases by 31.5 and the average area increases by 28.6.
【作者单位】： 合肥工业大学电子科学与应用物理学院;合肥工业大学计算机与信息学院;
【基金】：国家自然科学基金(61106038,61274036,61371025,61474036,61574052) 博士点基金(20110111120012) 合肥工业大学科学研究发展基金(2013HGXJ0197)资助项目
【分类号】：TP333;TN402

【参考文献】

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【共引文献】

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本文编号：1781245