基于VMM的ALU验证

发布时间：2018-04-25 16:10

  本文选题：System + Verilog　； 参考：《现代电子技术》2015年07期

【摘要】：基于VMM方法学设计和实现了一个随机验证环境,验证一个64位ALU。该验证环境具备一套功能完备的随机测试程序发生器,可以生成覆盖率指导的有约束的定点、浮点指令序列,调用一个由C语言实现的参考模型进行运算结果自检,并采用覆盖率收敛技术实现覆盖率快速收敛。实践结果表明,设计的随机验证环境,能够高效验证ALU的各项逻辑功能,减少测试时间,且随机测试程序生成模块可以简单移植应用于处理器其他模块的功能验证。
[Abstract]:A random verification environment based on VMM methodology is designed and implemented to verify a 64 bit ALU. The verification environment has a set of random test program generator with complete function, which can generate constrained fixed-point, floating-point instruction sequence guided by coverage, and call a reference model realized by C language for self-checking of operation results. The fast convergence of coverage is realized by using coverage convergence technique. The practical results show that the designed random verification environment can efficiently verify the logic functions of ALU and reduce the test time, and the random test program generation module can be easily transplanted to other modules of the processor for functional verification.
【作者单位】： 桂林电子科技大学电子工程及自动化学院;
【基金】：国家自然科学基金(51465011)
【分类号】：TP332

【参考文献】

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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本文编号：1802049