基于March C-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统

发布时间：2018-05-27 20:35

  本文选题：仿真测试 + 单粒子翻转　； 参考：《电子器件》2014年05期

【摘要】：为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的测试向量,通过NI公司的HSDIO-6548板卡采集2个SRAM的数据,根据其比较结果判定SEU故障是否发生。该系统可以实时监测故障状态及测试进程,并且具有较好的可扩展性。
[Abstract]:A memory test system based on LabVIEW and FPGA is designed to realize the single particle flip fault detection of SRAM chip. A visual test platform based on LabVIEW is developed in the fault monitoring terminal to perform the task of data acquisition, storage and result analysis. The board test end injects the test vector based on March C- algorithm to the reference SRAM and the SRAM to be tested through FPGA, collects the data of two SRAM through the HSDIO-6548 board card of NI company, and determines whether the SEU fault occurs or not according to the comparison result. The system can monitor the fault state and test process in real time, and has good scalability.
【作者单位】： 中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室;中国民航大学安全科学与工程学院;
【基金】：国家自然科学基金委员会与中国民用航空局联合项目(U1333120) 中央高校基本科研业务费项目(3122013P004);中央高校基本科研业务费项目(312013SY53) 中国民航大学科研启动基金项目(2012QD26X)
【分类号】：TP333

【参考文献】

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【共引文献】

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本文编号：1943657